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김봉렬

소속기관
대한전자공학회
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주요 연구분야

  • 공학 > 전자/정보통신공학

저자의 연구 키워드

저자가 작성한 논문들의 주요 키워드입니다.

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  • 논문수41
  • 발행기간1973 ~ 1996
  • 이용수1,013
  • 피인용수0

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  • 피인용 논문 제목
    • 피인용 논문 저자
게시판 목록
논문명 저널명 발행연도 이용수 피인용수
플라즈마 식각 공정이 N2O 산화막과 순수한 산화막을 갖는 MOS 소자 특성에 미치는 영향에 관한 연구 ( A Study on the Effect of Plasma Etching Process on the Characteristics of MOS Devices with N2O and Pure Gate Oxides ) 전자공학회논문지-A 1996 32 0
정전류 스트레스 하에서 게이트 산화막의 항복 특성 예측 ( Prediction of Gate Oxide Breakdown under Constant Current Stresses ) 전자공학회논문지-A 1996 42 0
형상반전공정의 패턴형성시 선폭감소를 이용한 0.25um T - gate MESFET 의 제작 ( 0.25um T - gate MESFET Fabrication by using the Size Reduction of Pattern in Image Reversal Process ) 전자공학회논문지-A 1995 14 0
Hot - Carrier 에 의한 소자 노쇠화가 아날로그 회로에 미치는 영향 ( A Study on the Effect of Device Degradation induced by Hot - Carrier to Analog Circuits ) 전자공학회논문지-A 1994 13 0
새로운 측정방법을 이용한 바이폴라 트랜지스터에서의 직류 및 교류 전류 편중 효관에 관한 해석 ( The Analysis of DC and AC Current Crowding Effects Model in Bipolar Junction Transistors Using a New Extraction Method ) 전자공학회논문지-A 1994 29 0
Optical Stepper 의 이중노광에 의한 미세한 포토레지스트 패턴의 형성 ( Very Fine Photoresist Pattern Formation using Double Exposure of Optical Wafer Stepper ) 전자공학회논문지-A 1994 74 0
증착시 도핑된 비정질 Si 게이트를 갖는 MOS 캐패시터와 트랜지스터의 전기적 특성 ( Electical Properties of MOS Capacitors and Transistors with in - situ doped Amorphous Si Gate ) 전자공학회논문지-A 1994 41 0
N2O 산화막을 갖는 MOS 캐패시터의 전기적 및 신뢰성 특성 ( Electrical and Reliability properties of MOS Capacitors with N2O oxides ) 전자공학회논문지-A 1994 36 0
SC-PMOSFET 의 수평 전계 모델과 노쇠화 메커니즘 ( Lateral Electric Field Model and Degradation Mechanism of Surface-Channel PMOSFET`s ) 전자공학회논문지-A 1994 13 0
수정된 수평 전계 모델을 이용한 SC-PMOSFET 의 기판 전류와 게이트 전류의 해석적 모델 ( An Analytical Models for Substrate Current and Gate Current Using Modified Lateral Electric Field Model for Surface-Channel PMOSFET`S ) 전자공학회논문지-A 1994 11 0
직류 및 교류스트레스 조건에서 발생된 Hot-Carrier가 PMOSFET의 누설전류에 미치는 영향 ( Hot-Carrier Induced GIDL Characteristics of PMOSFETs under DC and Dynamic Stress ) 전자공학회논문지-A 1993 38 0
Hot-Carrier로 인한 PMOSFET의 소자 수명시간 예측 모델링 ( II ) ( A Lifetime Prediction Modeling for PMOSFET degraded by Hot-Carrier ( II ) ) ( A Lifetime Prediction Modeling Using Gate Current for PMOSFET ) 전자공학회논문지-A 1993 22 0
Hot-Carrier로 인한 PMOSFET의 소자 수명시간 예측 모델링 ( I ) ( A Lifetime Prediction Modeling for PMOSFET degraded by Hot-Carrier ( I ) ) 전자공학회논문지-A 1993 37 0
재산화된 질화산화막의 전하포획 특성 ( The Charge Trapping Properties of ONO Dielectric Films ) 전자공학회논문지-A 1992 14 0
다결정 실리콘 위에 성장한 ONO 절연체의 전기적 특성 ( Electrical Properties of ONO Dielectrics Grown on Polycrystalline Silicon ) 전자공학회논문지-A 1992 23 0
열산화법으로 형성한 탄탈륨 산화막의 전기적 특성 ( Electric Charcteristics of Tantalum Pentoxide 전자공학회논문지-A 1992 20 0
BF2 이온 주입한 표면 채널 LDD PMOSFET의 Hot-Carrier 효과 ( Hot-Carrier Effects of BF3 Ion-Implanted Surface-Channel LDD PMOSFET ) 전자공학회논문지-A 1991 32 0
재산화된 질화 산화막을 게이트 절연막으로 사용한 MOSFET의 특성 ( The Characteristics of MOSFET with Reoxidized Nitrided Oxide Gate Dielectrics ) 전자공학회논문지-A 1991 13 0
이온빔 증착 텅스텐을 이용한 자기정렬 게이트 GaAs MESFET의 전기적 특성 ( Electrical Characteristics of Self Aligned Gate GaAs MESFETs Using Ion Beam Deposited Tungsten ) 전자공학회논문지 1990 13 0
건식 산화법에 의한 인 도핑 다결정 산화막의 전기적 특성 분석 ( Analysis of Electrical Properties of Polyoxide Grown on Prosphorous-doped Polysilicon ) 전자공학회논문지 1990 19 0
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