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공정택 (Jeong-Taek Kong)

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삼성전자
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주요 연구분야

  • 공학 > 전자/정보통신공학

저자의 연구 키워드

저자가 작성한 논문들의 주요 키워드입니다.

저자의 연구 키워드
#differential cascode voltage switch
#DyCML
#flip-flops
#level converting flip-flop
#low power and high speed flip-flop
#Mos current-mode logic
#wide range supply

저자의 논문 현황

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  • 논문수22
  • 발행기간1984 ~ 2008
  • 이용수477
  • 피인용수0

논문제목를 인용한 논문목록입니다.

  • 피인용 논문 제목
    • 피인용 논문 저자
게시판 목록
논문명 저널명 발행연도 이용수 피인용수
저 전력 SoC를 위한 저 누설전류 특성을 갖는 Self-Timed Current-Mode Logic Family 전자공학회논문지-SD 2008 79 0
넓은 범위의 전원전압 변화에 적합한 전류 미러형 레벨 컨버팅 플립-플롭 대한전자공학회 학술대회 2007 24 0
Maximum Transition Time Violation Fix를 위한 효과적인 방법고찰 대한전자공학회 기타 간행물 2001 229 0
Clock Tree Synthesis 효율화를 위한 pre - layout단계의 clock network 분석 기능의 구현 대한전자공학회 기타 간행물 2001 43 0
DFT for Hierarchical Design 대한전자공학회 기타 간행물 2001 14 0
Verilog HDL Code Purification을 위한 RightLint 개발 대한전자공학회 기타 간행물 2001 12 0
HW / SW Co - verification을 위한 CalmRISCTM PSP 개발 대한전자공학회 기타 간행물 2001 7 0
IMS : SOC Design을 위한 전사적 IP 공유 System 대한전자공학회 기타 간행물 2001 6 0
Deep Submicron 설계의 interconnect 모델링 자동 비교 분석기(IntView) 개발 대한전자공학회 기타 간행물 2001 4 0
Poewer 분포 해석기를 이용한 Power - Line 검증 대한전자공학회 기타 간행물 2001 3 0
삼성의 VLSI CAD 기술 전자공학회지 1997 14 0
Low Power VLSI 설계를 위한 Circuit-level Power 해석 환경 개발 대한전자공학회 학술대회 1997 2 0
Low Power VLSI 설계를 위한 Circuit-level Power 해석 환경 개발 ( Development of a Circuit-level Power Analysis Environment for Low VLSI Design ) 대한전자공학회 토론회 1997 9 0
Waveform Relaxation 과 Event Driven 기법을 이용한 Timing Simulation ( A New Event Driven Timing Simulation Based on Waveform Relaxation Method ) 대한전자공학회 학술대회 1987 3 0
TABLE LOOK-UP 방식을 이용한 MOSFET 회로 시뮬레이티 대한전자공학회 학술대회 1986 2 0
TABLE LOOK-UP 방식을 이용한 MOSFET 회로 시뮬레이터 ( A MOSFET circuit simulator using table look-up model ) 대한전자공학회 학술대회 1986 0 0
SPICE2 BJT DC 및 AC 모델 파라미터 최적 추출 대한전자공학회 학술대회 1985 7 0
SPICE2 접합 용량 parameter 최적 추출 방법 대한전자공학회 학술대회 1985 1 0
SPICE2 BJT DC 및 AC 모델 파라미터 최적 추출 ( Optimized Extraction of the SPICE2 BJT DC and AC Model parameters ) 대한전자공학회 학술대회 1985 3 0
SPICE2 접합용량 Parameter 최적 추출 방법 ( A New Method to Extract the SPICE2G Junction Capacitance Parameters using Measured Data ) 대한전자공학회 학술대회 1985 1 0
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