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유동열 (Dong Ryul Ryu)

소속기관
대한전자공학회
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직급
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연구경력
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주요 연구분야

  • 공학 > 전자/정보통신공학

저자의 연구 키워드

저자가 작성한 논문들의 주요 키워드입니다.

저자의 연구 키워드
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저자의 논문 현황

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  • 논문수21
  • 발행기간1991 ~ 1999
  • 이용수57
  • 피인용수0

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  • 피인용 논문 제목
    • 피인용 논문 저자
게시판 목록
논문명 저널명 발행연도 이용수 피인용수
내장형 시스템에 적합한 32 비트 RISC/DSP 마이크로프로세서에 관한 연구 대한전자공학회 학술대회 1999 2 0
32 비트 DSP RISC 프로세서를 위한 ALU 설계 및 테스트 ( ALU Design & Test for 32-bit DSP RISC Processors ) 대한전자공학회 학술대회 1998 4 0
32 비트 DSP RISC 프로세서를 위한 ALU 설계 및 테스트 대한전자공학회 학술대회 1998 2 0
32 비트 RISC / DSP CPU를 위한 고속 3 포트 레지스터 파일의 설계 ( High Speed Triple-port Register File for 32-bit RISC / DSP Processors ) 대한전자공학회 학술대회 1998 1 0
Current Mirror 내 개별 소자의 노쇠화와 회로 성능지수와의 관계에 관한 연구 대한전자공학회 학술대회 1995 0 0
Current Mirror 내 개별 소자의 노쇠화와 회로 성능지수와의 관계에 관한 연구 ( A Study on the Relationship of Discrete Device Degradation with Circuit Performance in Current Mirror ) 대한전자공학회 학술대회 1995 0 0
Hot-Carrier 현상에 의한 개별 소자의 노쇠화가 Current Mirror 회로에 미치는 영향 대한전자공학회 학술대회 1995 3 0
Hot Electron에 의한 노쇠화가 CMOS 차동증폭기의 이득에 미치는 영향 대한전자공학회 학술대회 1994 6 0
Hot Electron에 의한 노쇠화가 CMOS 차동증폭기의 이득에 미치는 영향 ( The Impact of hot Electron Degradation on the Gain of CMOS Differential Amplifiers ) 대한전자공학회 학술대회 1994 0 0
Hot-Carrier에 의한 소자 노쇠화가 차동증폭기 회로에 미치는 영향 대한전자공학회 학술대회 1994 0 0
Hot-Carrier에 의한 소자 노쇠화가 차동증폭기 회로에 미치는 영향 ( The Study on the Effect of Device Degradation Induced by Hot-Carrier to Differential Amplifiers ) 대한전자공학회 학술대회 1994 0 0
Hot Carrier에 의한 소자 노쇠화가 Current Mirror에 미치는 영향 대한전자공학회 학술대회 1994 1 0
개별 소자의 노쇠화에 따른 링 오실레이터의 지연 시간 모델링 대한전자공학회 학술대회 1993 5 0
단위소자의 노쇠화가 링 오실레이터의 주파수 변화에 미치는 영향 대한전자공학회 학술대회 1993 2 0
개별 소자의 노쇠화에 따른 링 오실레이터의 지연 시간 모델링 ( The Modelling of Delay Time of Fing Oscillator by the Degradation of Discrete Devices ) 대한전자공학회 학술대회 1993 1 0
단위소자의 노쇠화가 링 오실레이터의 주파수 변화에 미치는 영향 ( The Effect of Degradation of Descrete Device on the Frequency change of Ring Oscillator ) 대한전자공학회 학술대회 1993 0 0
Hot-Carrier 스트레스에 의하여 발생된 계면상태가 PMOSFET의 밴드간 터널링 전류에 미치는 영향 ( The Effect of Interface State ( Nit ) Generated by Hot-Carrier Stress on GIDL Current of PMOSFET ) 대한전자공학회 학술대회 1993 19 0
게이트 전류를 이용한 SC-PMOSFET의 수명 시간 모델링 ( A Lifetime Modeling Using Gate Current for Surface-Channel PMOSFET`S ) 대한전자공학회 학술대회 1992 1 0
Extended MINIMOS를 이용한 매몰 채널과 표면 채널 PMOSFET의 노쇠화 현상 비교 ( A Comparative of Degradation Effects in Buried-and Surface-Channel PMOSFET`s Using Extended MINIMOS ) 대한전자공학회 학술대회 1991 4 0
Extended MINIMOS를 이용한 p-MOSFET의 노쇠화 현상 연구 ( A Study of Degradation effects on p-MOSFET Using Extended MINIMOS . ) 대한전자공학회 학술대회 1991 0 0
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