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김성무 (Seong-Moo Kim)

소속기관
한밭대학교
소속부서
전자 제어공학과
직급
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ORCID
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연구경력
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주요 연구분야

  • 공학 > 전자/정보통신공학

저자의 연구 키워드

저자가 작성한 논문들의 주요 키워드입니다.

저자의 연구 키워드
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저자의 논문 현황

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  • 논문수20
  • 발행기간1992 ~ 2018
  • 이용수50
  • 피인용수0

논문제목를 인용한 논문목록입니다.

  • 피인용 논문 제목
    • 피인용 논문 저자
게시판 목록
논문명 저널명 발행연도 이용수 피인용수
Pulse 신호를 이용한 머신러닝 알고리즘 기반의 생체인증 대한전자공학회 학술대회 2018 19 0
Gate Bias에 따른 포화 전류 부정합성 변화 분석 대한전자공학회 학술대회 2016 8 0
강화된 심플 휴리스틱을 통한 정확한 자바 핫스팟 감지 대한전자공학회 학술대회 2007 1 0
EDIF Netlist를 이용한 PLD 설계용 툴 개발에 관한 연구 대한전자공학회 학술대회 1995 2 0
EDIF Netlist를 이용한 PLD 설계용 툴 개발에 관한 연구 ( A Study on the Development of a Tool for PLD Design Using the EDIF Netlist ) 대한전자공학회 학술대회 1995 3 0
PLD partition을 고려한 PLD 설계용 툴 개발 대한전자공학회 학술대회 1994 2 0
PLD partition을 고려한 PLD 설계용 툴 개발 ( The development of PLD Design Tool considering PLD partition ) 대한전자공학회 학술대회 1994 1 0
개선된 PLD 설계용 상태 graphic editor에 관한 연구 대한전자공학회 학술대회 1994 0 0
개선된 PLD 설계용 상태 Graphic Editor에 관한 연구 ( A Study on an Improved State Graphic Editor for PLD Design ) 대한전자공학회 학술대회 1994 0 0
PLD Designer ( MyPLD ) 를 이용한 디지털 회로 구현에 관한 연구 대한전자공학회 학술대회 1994 4 0
메모리의 row / column weight PSF를 효과적으로 검출하는 알고리듬 및 회로구현 ( Algorithm and Implementation of circuit which effectively detect the row / column weight PSF in memory ) 대한전자공학회 학술대회 1993 0 0
메모리의 row/column seight PSF를 효과적으로 검출하는 알고리듬 및 회로 구현 대한전자공학회 학술대회 1993 0 0
BILBO 기법을 이용한 회로분할 테스트에 관한 연구 대한전자공학회 학술대회 1993 0 0
BILBO 기법을 이용한 회로분할 테스트에 관한 연구 ( A Study on Circuit Partitioning Test Using BILBO Approach ) 대한전자공학회 학술대회 1993 0 0
메모리의 PSF 테스트를 위한 BIST 구현 ( BIST implementation for testing PSF in memories ) 대한전자공학회 학술대회 1993 3 0
메모리의 PSF 테스트를 위한 BIST 구현 대한전자공학회 학술대회 1993 1 0
PLD 설계를 위한 상태 Graphic Editor 개발에 관한 연구 ( A Study on the Development of a State Graphic Editor for PLD Design ) 대한전자공학회 학술대회 1993 1 0
반도체 ROM의 Functional 테스트에 관한 연구 ( A Study on the Functional Test of Semiconductor ROM ) 대한전자공학회 학술대회 1992 5 0
반도체 메모리의 제한된 PSF 검출을 위한 병렬 테스트 알고리즘 ( Parallel Test Algorithm to Detect Restricted PSF for Semiconductor Memory ) 대한전자공학회 학술대회 1992 0 0
메모리의 병렬 테스트 방식에 의한 PSF 검출 ( PSF Detection of Memory by Parallel Testing ) 대한전자공학회 학술대회 1992 0 0