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박승환 (Seung Hwan Park)

소속기관
고려대학교
소속부서
생산시스템경영연구실
직급
-
ORCID
-
연구경력
-

주요 연구분야

  • 공학 > 산업공학 TOP 5%
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저자의 연구 키워드

저자가 작성한 논문들의 주요 키워드입니다.

저자의 연구 키워드
#Fail bit pattern
#Imbalanced Data
#MCSVM
#Package test
#Semiconductor
#Semiconductor Process
#Support Vectors
#Under-Sampling
#Wafer map image
#Wafer test

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  • 논문수29
  • 발행기간2009 ~ 2016
  • 이용수2,792
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논문제목를 인용한 논문목록입니다.

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게시판 목록
논문명 저널명 발행연도 이용수 피인용수
머신러닝 기법을 활용한 반도체 패키징 공정의 칩 표면 이상 검출 및 분류 대한산업공학회 추계학술대회 논문집 2016 262 0
마이닝 마인즈 플랫폼용 헬스케어 서비스를 위한 사용자 관점의 UX 연구 대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집 2016 46 0
Application of data-driven control charts in semiconductor packaging process 대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집 2016 34 0
Lag-time based simulation for semiconductor equipment investment 대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집 2016 26 0
마이닝 마인즈 플랫폼용 헬스케어 서비스를 위한 사용자 관점의 UX 연구 한국경영과학회 학술대회논문집 2016 23 0
Application of data-driven control charts in semiconductor packaging process 한국경영과학회 학술대회논문집 2016 10 0
Lag-time based simulation for semiconductor equipment investment 한국경영과학회 학술대회논문집 2016 8 0
반도체 공정에서의 Wafer Map Image 분석 방법론 대한산업공학회지 2015 337 0
텍스트마이닝을 통한 제조시스템 분야의 연구동향 파악 대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집 2015 329 0
텍스트마이닝을 통한 제조시스템 분야의 연구동향 파악 한국경영과학회 학술대회논문집 2015 50 0
Individual Control Chart를 활용한 다중 프로파일 데이터 모니터링 기법에 관한 연구 대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집 2015 27 0
Multivariate Skew t Mixture Model based Clustering을 이용한 클래스 불균형 문제 해결 대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집 2015 20 0
Individual Control Chart를 활용한 다중 프로파일 데이터 모니터링 기법에 관한 연구 한국경영과학회 학술대회논문집 2015 6 0
Multivariate Skew t Mixture Model based Clustering을 이용한 클래스 불균형 문제 해결 한국경영과학회 학술대회논문집 2015 5 0
MCSVM을 이용한 반도체 공정데이터의 과소 추출 기법 대한산업공학회지 2014 254 0
제조 공정 빅 데이터를 활용한 클러스터링 기반 특질 추출 대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집 2014 166 0
공간 데이터 분석 기법을 이용한 웨이퍼 맵 데이터의 특질 추출 대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집 2014 66 0
공간 데이터 분석 기법을 이용한 웨이퍼 맵 데이터의 특질 추출 한국경영과학회 학술대회논문집 2014 15 0
제조 공정 빅 데이터를 활용한 클러스터링 기반 특질 추출 한국경영과학회 학술대회논문집 2014 15 0
양품 등급화 기반 최적조건 분석 대한산업공학회 추계학술대회 논문집 2013 115 0
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