| Low Cost Endurance Test-pattern Generation for Multi-level Cell Flash Memory |
JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE |
2017 |
19 |
5 |
3 |
11 |
0 |
0 |
0 |
| 3D IC 를 위한 저전력 스캔 체인 배열 방법 |
한국통신학회 학술대회논문집 |
2015 |
16 |
2 |
4 |
2 |
5 |
3 |
0 |
| 3D IC를 위한 스캔 셀 재배열을 이용한 저전력 테스트 방법 |
한국통신학회 학술대회논문집 |
2015 |
19 |
0 |
1 |
7 |
8 |
3 |
0 |
| 실시간 트레이스 버퍼를 이용한 효율적 하드웨어 디버그 압축 기법 |
한국통신학회 학술대회논문집 |
2015 |
3 |
0 |
1 |
0 |
1 |
1 |
0 |
| 커버리지 기반 검증을 위한 이행 검증 패턴 생성 방법에 관한 연구 |
한국통신학회 학술대회논문집 |
2015 |
11 |
3 |
1 |
1 |
3 |
3 |
0 |
| BRANCH 단일 분석기의 ROS 최적화 방안 |
한국통신학회 학술대회논문집 |
2015 |
6 |
2 |
1 |
0 |
1 |
2 |
0 |
| KRAFT: K-associative Relative Addressing Flash Transition Layer |
ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications |
2015 |
13 |
1 |
3 |
2 |
4 |
3 |
0 |
| NTV 회로의 온도 편차와 테스트 신뢰성에 관한 고찰 |
대한전자공학회 학술대회 |
2015 |
9 |
1 |
4 |
4 |
0 |
0 |
0 |
| P1838 표준의 Memory BIST를 재활용 한 3차원으로 적층 된 플랫 메모리 자체 테스트 기법 |
한국통신학회 학술대회논문집 |
2015 |
15 |
0 |
3 |
3 |
4 |
5 |
0 |
| 스패어 메모리를 이용한 최소 면적의 BIRA 알고리즘 |
대한전자공학회 학술대회 |
2013 |
36 |
2 |
1 |
8 |
2 |
4 |
19 |
| 하드웨어 크기를 줄이기 위한 최적화된 CAM 구조를 가지는 BIRA 알고리즘 |
대한전자공학회 학술대회 |
2013 |
21 |
0 |
1 |
1 |
3 |
5 |
11 |
| An Efficient RPCT (Reduced Pin Count Testing) based on Test Data Compression using Burst Clock Controller in 3D-IC |
대한전자공학회 ISOCC |
2013 |
5 |
1 |
1 |
2 |
0 |
1 |
0 |
| Efficient Multi-site Testing Using ATE Channel |
JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE |
2013 |
28 |
3 |
3 |
4 |
3 |
8 |
7 |
| Efficient TSV repair method for 3D memories |
대한전자공학회 ISOCC |
2013 |
17 |
1 |
3 |
5 |
0 |
8 |
0 |
| IEEE 1500 표준 기반의 효율적인 프로그램 가능한 메모리 BIST |
전자공학회논문지 |
2013 |
65 |
5 |
6 |
10 |
4 |
14 |
26 |
| Scan chain swapping using TSVs for test power reduction in 3D-IC |
대한전자공학회 ISOCC |
2013 |
5 |
1 |
2 |
0 |
0 |
2 |
0 |
| Test Scheduling Using Ant Colony Optimization for 3D Integrated Circuits |
대한전자공학회 ISOCC |
2013 |
15 |
2 |
2 |
3 |
1 |
7 |
0 |
| 비트맵 메모리 공유를 통해 면적을 크게 줄인 효율적인 수리 방법 |
전자공학회논문지 |
2012 |
27 |
0 |
1 |
2 |
3 |
9 |
12 |
| 아날로그-디지털 변환기의 정적 파라미터 테스트를 위한 내장 자체 테스트 방법 |
전자공학회논문지-SD |
2012 |
41 |
0 |
2 |
8 |
5 |
8 |
18 |
| 이중 포트 메모리를 위한 효율적인 프로그램 가능한 메모리 BIST |
전자공학회논문지-SD |
2012 |
67 |
1 |
2 |
4 |
8 |
16 |
36 |
| A Timing Formatter Atrchitecture for High Speed Memory Test |
대한전자공학회 ISOCC |
2012 |
7 |
0 |
1 |
1 |
0 |
0 |
5 |
| Dual Channel Timing Formatter for High Speed Memory Test |
대한전자공학회 ISOCC |
2012 |
7 |
0 |
3 |
0 |
0 |
1 |
3 |
| Integration of Dual Channel Timing Formatter System for High Speed Memory Test Equipment |
대한전자공학회 ISOCC |
2012 |
11 |
0 |
2 |
1 |
0 |
1 |
7 |
| Novel Hierarchical Test Architecture for SOC Test Methodology Using IEEE Test Standards |
JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE |
2012 |
24 |
2 |
2 |
1 |
0 |
6 |
13 |
| 3차원 메모리의 수율 증진을 위해 접합 공정에서 발생하는 추가 고장을 고려한 다이 매칭 방법 |
전자공학회논문지-SD |
2011 |
74 |
5 |
1 |
6 |
4 |
22 |
36 |
| Path Search Engine for Fast Optimal Path Search Using Efficient Hardware Architecture |
대한전자공학회 ISOCC |
2011 |
22 |
1 |
0 |
2 |
1 |
7 |
11 |
| 내장된 자체 테스트를 위한 저전력 테스트 패턴 생성기 구조 |
전자공학회논문지-SD |
2010 |
66 |
2 |
1 |
3 |
3 |
12 |
45 |
| 불량 예비셀을 고려한 자체 내장 수리연산을 위한 분석 영역 가상화 방법 |
전자공학회논문지-SD |
2010 |
60 |
0 |
1 |
1 |
5 |
14 |
39 |
| 선호도 기반 최단경로 탐색을 위한 휴리스틱 융합 알고리즘 |
전자공학회논문지-TC |
2010 |
401 |
17 |
43 |
48 |
39 |
43 |
211 |
| 우선순위 큐를 이용한 A* 기반 최단경로 탐색 기법 |
한국정보기술학회논문지 |
2010 |
174 |
8 |
14 |
10 |
15 |
29 |
98 |
| 최적 수리효율을 갖는 다중 블록 광역대체 수리구조 메모리를 위한 자체 내장 수리연산회로 |
전자공학회논문지-SD |
2010 |
48 |
0 |
1 |
1 |
6 |
15 |
25 |
| A New Scan Slice Encoding Scheme with Flexible Code for Test Data Compression |
대한전자공학회 ISOCC |
2010 |
10 |
1 |
0 |
0 |
1 |
2 |
6 |
| An Area Efficient Programmable Built-In Self-Test for Embedded Memories Using an Extended Address Counter |
대한전자공학회 ISOCC |
2010 |
19 |
1 |
0 |
1 |
1 |
1 |
15 |
| Enhenced Redundancy Analysis for Memories Using Geometric Faults Based Search Tree |
대한전자공학회 ISOCC |
2010 |
18 |
2 |
0 |
2 |
2 |
3 |
9 |
| FiX-Compact |
대한전자공학회 ISOCC |
2010 |
13 |
1 |
0 |
0 |
1 |
3 |
8 |
| 고속 고장 진단을 위해 고장 후보 정렬과 테스트 패턴 정렬을 이용한 고장 탈락 방법 |
전자공학회논문지-SD |
2009 |
49 |
2 |
4 |
6 |
4 |
4 |
29 |
| 내장된 싱글 포트 RAM을 위한 효과적인 Programmable Memory BIST |
대한전자공학회 학술대회 |
2009 |
69 |
3 |
1 |
2 |
6 |
6 |
51 |
| 리스트 스케줄링을 통한 Coarse-Grained 재구성 구조의 맵핑 알고리즘 개발 |
전자공학회논문지-SD |
2009 |
67 |
0 |
1 |
1 |
4 |
6 |
55 |
| 멀티프로세서상의 에너지 소모를 고려한 동적 전압 스케일링 및 전력 셧다운을 이용한 태스크 스케줄링 |
전자공학회논문지-SD |
2009 |
95 |
0 |
3 |
0 |
4 |
11 |
77 |
| 메모리 사용을 감소시킨 Deep Packet Inspection을 위한 비트 분리 스트링 매칭 엔진 |
대한전자공학회 학술대회 |
2009 |
70 |
0 |
0 |
4 |
4 |
14 |
48 |
| 저전력 BIST를 위한 패턴 사상(寫像) 기법에 관한 연구 |
전자공학회논문지-SD |
2009 |
50 |
0 |
0 |
0 |
2 |
6 |
42 |
| 테스트 시간과 테스트 전력 감소를 위한 선택적 세그먼트 바이패스 스캔 구조 |
전자공학회논문지-SD |
2009 |
36 |
2 |
2 |
3 |
4 |
4 |
21 |
| 효율적인 LFSR 리시딩 기반의 테스트 압축 기법 |
전자공학회논문지-SD |
2009 |
57 |
0 |
3 |
4 |
7 |
2 |
41 |
| A BIST Architecture for Multiple DACs in an LTPS TFT-LCD Source Driver IC |
대한전자공학회 ISOCC |
2009 |
20 |
3 |
1 |
2 |
2 |
4 |
8 |
| A Hardware-Efficent Multi-character String Matching Architecture Using Brute-force Algorithm |
대한전자공학회 ISOCC |
2009 |
23 |
3 |
0 |
0 |
1 |
5 |
14 |
| An Advanced BIRA Using Parallel Sub-analyzers for Embedded Memories |
대한전자공학회 ISOCC |
2009 |
9 |
1 |
0 |
3 |
1 |
0 |
4 |
| An Area-efficient Built-in Redundancy Analysis for Embedded Memories with Optimal Repair Rate using 2-D Redundancy |
대한전자공학회 ISOCC |
2009 |
5 |
1 |
0 |
3 |
0 |
0 |
1 |
| DFT for Achieving Hybrid Transiton Delay Fault Test with Reduced Pin Count Testing |
대한전자공학회 ISOCC |
2009 |
11 |
1 |
0 |
0 |
0 |
4 |
6 |
| Digital Background Self-calibration for High Resolution Analog to Digital Converters |
ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications |
2009 |
18 |
0 |
1 |
0 |
1 |
0 |
16 |
| 고속 IP 주소 검색을 위한 프리픽스 타입 기반의 바이너리 검색 가속 기법 |
대한전자공학회 학술대회 |
2008 |
18 |
1 |
1 |
0 |
1 |
1 |
14 |
| 규칙적인 NoC 구조에서의 네트워크 지연 시간 최소화를 위한 어플리케이션 코어 매핑 방법 연구 |
전자공학회논문지-SD |
2008 |
67 |
1 |
0 |
9 |
3 |
8 |
46 |
| 명령어 분석기를 이용한 고속 메모리 테스트를 위한 병렬 ALPG |
전자공학회논문지-SD |
2008 |
116 |
2 |
2 |
15 |
19 |
9 |
69 |
| 스캔입력 변형기법을 통한 새로운 저전력 스캔 BIST 구조 |
전자공학회논문지-SD |
2008 |
44 |
0 |
2 |
4 |
5 |
2 |
31 |
| 실시간 시공 노이즈 제거 시스템 구현 |
전자공학회논문지-SP |
2008 |
118 |
2 |
5 |
2 |
5 |
18 |
86 |
| 이중 고장 목록을 이용한 고속 고장 진단 방법 |
대한전자공학회 학술대회 |
2008 |
28 |
0 |
0 |
0 |
2 |
7 |
19 |
| 전압변화에 의한 에너지 오버헤드를 고려하는 멀티프로세서 시스템을 위한 전압 조절 기법 |
대한전자공학회 학술대회 |
2008 |
1 |
0 |
0 |
0 |
0 |
0 |
1 |
| 전압변화에 의한 에너지 오버헤드를 고려하는 멀티프로세서 시스템을 위한 전압 조절 기법 |
대한전자공학회 학술대회 |
2008 |
9 |
0 |
0 |
0 |
0 |
1 |
8 |
| 천이 수정을 통한 고 성능 테스트 데이터 압축 기법 |
전자공학회논문지-SD |
2008 |
35 |
1 |
0 |
1 |
4 |
1 |
28 |
| A heuristic method to reduce fault candidates for a speedy fault diagnosis |
대한전자공학회 ISOCC |
2008 |
22 |
1 |
0 |
0 |
1 |
11 |
9 |
| ACO를 이용한 저전력 ECC H-매트릭스 최적화 방안 |
전자공학회논문지-SD |
2008 |
60 |
0 |
1 |
4 |
3 |
5 |
47 |
| An Effective Parallel ALPG Using Instruction Unrolling for High Speed Memory Testing |
대한전자공학회 ISOCC |
2008 |
20 |
1 |
0 |
3 |
0 |
2 |
14 |
| An Efficient BIST Architecture for Embedded RAMs |
ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications |
2008 |
29 |
0 |
0 |
0 |
1 |
17 |
11 |
| Path Delay Fault Diagnosis Using Path Scoring |
대한전자공학회 ISOCC |
2008 |
6 |
1 |
0 |
0 |
0 |
1 |
4 |
| SA 기법 응용 NoC 기반 SoC 테스트 시간 감소 방법 |
전자공학회논문지-SD |
2008 |
56 |
2 |
5 |
4 |
4 |
6 |
35 |
| Segmented Scan Architecture Using Segment Grouping for Test Cost Reduction |
대한전자공학회 ISOCC |
2008 |
10 |
1 |
0 |
1 |
0 |
1 |
7 |
| Signal Integrity 연결선 테스트용 다중천이 패턴 생성방안 |
전자공학회논문지-SD |
2008 |
33 |
0 |
2 |
0 |
4 |
8 |
19 |
| Signal Integrity 연결선 테스트용 다중천이 패턴 생성방안 |
전자공학회논문지-SD |
2008 |
48 |
1 |
3 |
3 |
4 |
3 |
34 |
| Variable-Length Block Nine-Coded Compression Technique with Huffman Codes and Symbol Merging |
대한전자공학회 ISOCC |
2008 |
15 |
4 |
1 |
0 |
2 |
3 |
5 |
| 고장 대상 후보를 줄이기 위한 패턴 비교 알고리즘 |
전자공학회논문지-SD |
2007 |
43 |
0 |
3 |
3 |
6 |
7 |
24 |
| 내부 버퍼와 단일 엔트리 캐슁을 이용한 다단계 패킷 분류 가속화 구조 |
전자공학회논문지-TC |
2007 |
21 |
0 |
0 |
1 |
3 |
3 |
14 |
| 위상천이 네트워크를 사용한 X-마스크 기법 |
전자공학회논문지-SD |
2007 |
21 |
1 |
0 |
1 |
5 |
3 |
11 |
| 이중 포트 메모리의 실제적인 고장을 고려한 효율적인 테스트 알고리즘 |
전자공학회논문지-SD |
2007 |
42 |
0 |
0 |
0 |
5 |
9 |
28 |
| 재구성 가능한 코프로세서의 속도 향상을 위한 새로운 스케줄링과 맵핑 |
대한전자공학회 학술대회 |
2007 |
3 |
0 |
0 |
0 |
1 |
0 |
2 |
| 재구성 가능한 코프로세서의 속도 향상을 위한 새로운 스케줄링과 맵핑 |
대한전자공학회 학술대회 |
2007 |
4 |
0 |
0 |
0 |
2 |
2 |
0 |
| Sign Bit을 사용한 고효율의 메모리 자체 수리 회로 구조 |
전자공학회논문지-SD |
2007 |
35 |
0 |
1 |
3 |
0 |
6 |
25 |
| Sign bit을 사용한 고효율의 메모리 BISR 방법론 |
대한전자공학회 학술대회 |
2007 |
4 |
1 |
0 |
0 |
0 |
0 |
3 |
| Sign bit을 사용한 고효율의 메모리 BISR 방법론 |
대한전자공학회 학술대회 |
2007 |
3 |
0 |
0 |
2 |
0 |
1 |
0 |
| WCDMA 시스템에서 하향 링크 전력의 동적 할당 |
전자공학회논문지-TC |
2007 |
30 |
0 |
0 |
0 |
0 |
4 |
26 |
| 다양한 코어의 병렬 테스트를 지원하는 효과적인 SoC 테스트 구조 |
전자공학회논문지-SD |
2006 |
46 |
0 |
1 |
10 |
1 |
3 |
31 |
| 변형된 칼만 필터를 이용한 이동 로봇의 위치 추정 |
대한전자공학회 학술대회 |
2006 |
17 |
1 |
0 |
2 |
3 |
1 |
10 |
| 적응적인 복수 해슁과 프리픽스그룹화를 이용한 고속 IP 주소 검색 구조 |
전자공학회논문지-TC |
2006 |
25 |
0 |
0 |
2 |
4 |
1 |
18 |
| 효율적인 고장진단을 위한 딕셔너리 구조 개발 |
전자공학회논문지-SD |
2006 |
19 |
0 |
1 |
0 |
2 |
4 |
12 |
| An Efficient Diagnosis Algorithm for Multiple Stuck-at Faults |
전자공학회논문지-SD |
2006 |
44 |
0 |
1 |
5 |
4 |
6 |
28 |
| BIST 환경에서의 천이 억제 스캔 셀 구조 |
전자공학회논문지-SD |
2006 |
38 |
0 |
1 |
1 |
9 |
7 |
20 |
| Rectangle Packing 방식 기반 NoC 테스트 스케쥴링 |
전자공학회논문지-SD |
2006 |
37 |
8 |
1 |
0 |
1 |
5 |
22 |
| 가변 길이의 다중 특성 다항식을 사용하는LFSR을 이용한 새로운 Reseeding 방법 |
전자공학회논문지-SD |
2005 |
46 |
0 |
0 |
5 |
10 |
7 |
24 |
| 결정론적 테스트 세트의 신호확률에 기반을 둔 clustered reconfigurable interconnection network 내장된 자체 테스트 기법 |
전자공학회논문지-SD |
2005 |
28 |
0 |
1 |
3 |
2 |
9 |
13 |
| 네트워크 프로세서에 적합한 개선된 AntNet기반 라우팅 최적화기법 |
전자공학회논문지-TC |
2005 |
38 |
0 |
0 |
0 |
5 |
7 |
26 |
| 루프 검출 및 예측 방법을 적용한 비용 효율적인 실시간 분기 흐름 검사 기법 |
전자공학회논문지-SD |
2005 |
51 |
0 |
0 |
0 |
3 |
22 |
26 |
| 시드 병합을 통한 테스트 데이터의 압축방법 |
전자공학회논문지-SD |
2005 |
26 |
0 |
1 |
2 |
1 |
2 |
20 |
| 저전력 테스트를 고려한 효율적인 테스트 데이터 압축 방법 |
전자공학회논문지-SD |
2005 |
41 |
0 |
0 |
3 |
4 |
5 |
29 |
| 천이 감시 윈도우를 이용한 새로운 저전력 LFSR 구조 |
전자공학회논문지-SD |
2005 |
32 |
0 |
1 |
2 |
0 |
4 |
25 |
| 플라즈마 디스플레이 패널의 플리커 발생에 대한 예측 |
전자공학회논문지-SP |
2005 |
75 |
0 |
3 |
3 |
10 |
8 |
51 |
| 효율적인 IP Address Lookup을 위한 Multi-Prefix Binary Tree 구조 |
대한전자공학회 학술대회 |
2005 |
19 |
0 |
0 |
0 |
1 |
3 |
15 |
| A BASK System Design for Giga-bit Modem |
ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications |
2005 |
3 |
0 |
0 |
0 |
0 |
0 |
3 |
| An Effective Metric for System Survivability |
ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications |
2005 |
3 |
2 |
0 |
0 |
0 |
0 |
1 |
| Deterministic BIST Based on a Clustered Reconfigurable Interconnection Network |
ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications |
2005 |
2 |
0 |
0 |
0 |
0 |
0 |
2 |
| Efficient Test Point Selection using Multi-Objective Genetic Algorithms with Biological Kronecker Delta Evolution |
ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications |
2005 |
3 |
2 |
0 |
0 |
0 |
0 |
1 |
| Giga-Bit MODEM을 위한 BASK 시스템 설계 |
전자공학회논문지-TC |
2005 |
29 |
0 |
0 |
0 |
4 |
1 |
24 |
| SoC 환경에서 Grouping Run-length Code 를 사용한 새로운 압축기법 |
대한전자공학회 학술대회 |
2005 |
20 |
1 |
1 |
0 |
1 |
5 |
12 |
| 변형된 적분 파라미터를 가진 PID 제어방식 |
전자공학회논문지-SC |
2004 |
143 |
7 |
7 |
8 |
19 |
41 |
61 |
| 순차 회로를 위한 효율적인 혼합 고장 진단 알고리듬 |
전자공학회논문지-SD |
2004 |
30 |
0 |
1 |
1 |
5 |
4 |
19 |
| 이중 포트 메모리를 위한 효과적인 테스트와 진단 알고리듬 |
전자공학회논문지-SD |
2004 |
41 |
0 |
1 |
1 |
4 |
6 |
29 |
| 패킷 방식 네트워크상의 적응적 경로 선정을 위한 군집체 특성 적용 하드웨어 구현 |
전자공학회논문지-SD |
2004 |
16 |
0 |
0 |
0 |
0 |
5 |
11 |
| IR 기법을 이용한 효율적인 테스트 데이터 압축 방법 |
전자공학회논문지-SD |
2004 |
37 |
0 |
1 |
0 |
4 |
10 |
22 |
| SOC 테스트 시간 축소를 위한 새로운 내장 코어 기반 SOC 테스트 전략 |
전자공학회논문지-SD |
2004 |
50 |
0 |
1 |
7 |
5 |
9 |
28 |
| SoC환경에서의 저전력 테스트를 고려한 테스트 패턴 압축에 대한 효율적인 알고리즘 |
전자공학회논문지-SD |
2004 |
39 |
2 |
1 |
4 |
5 |
4 |
23 |
| SRAM 기반의 FPGA 연결선을 위한 고장 진단 알고리듬 개발 |
전자공학회논문지-SD |
2004 |
34 |
1 |
0 |
0 |
8 |
3 |
22 |
| 1Giga bit MODEM을 위한 Binary ASK방식 |
대한전자공학회 학술대회 |
2003 |
11 |
0 |
0 |
0 |
2 |
3 |
6 |
| 고속 IP Lookup을 위한 병렬적인 하이브리드 구조의 설계 |
전자공학회논문지-SD |
2003 |
26 |
0 |
4 |
1 |
4 |
4 |
13 |
| 내장형 자체 테스트 패턴 생성을 위한 하드웨어 오버헤드 축소 |
전자공학회논문지-SD |
2003 |
19 |
0 |
0 |
2 |
6 |
4 |
7 |
| 이중 포트 메모리를 위한 효과적인 테스트 알고리듬 |
전자공학회논문지-SD |
2003 |
30 |
0 |
0 |
2 |
2 |
8 |
18 |
| 자동 양자이득 조정에 의한 퍼지 제어방식 |
대한전자공학회 학술대회 |
2003 |
8 |
0 |
0 |
0 |
2 |
1 |
5 |
| 효율적인 혼합 BIST 방법 |
전자공학회논문지-SD |
2003 |
28 |
1 |
0 |
1 |
3 |
4 |
19 |
| Real-Time Application의 효과적인 QoS 라우팅을 위한 적응적 Route 선택 강화 방법 |
전자공학회논문지-TC |
2003 |
31 |
0 |
1 |
1 |
1 |
6 |
22 |
| SoC IP 간의 효과적인 연결 테스트를 위한 알고리듬 개발 |
전자공학회논문지-SD |
2003 |
25 |
0 |
1 |
4 |
2 |
8 |
10 |
| [대특집-SOC(System On Chip) 기술]특집 편집기 |
전자공학회지 |
2002 |
5 |
0 |
0 |
0 |
1 |
0 |
4 |
| [대특집-SOC(System On Chip) 기술]SOC 테스트 기술 동향 |
전자공학회지 |
2002 |
22 |
1 |
3 |
0 |
2 |
4 |
12 |
| 고성능 32-bit DSP 코프로세서의 아키텍쳐 개발(Development of a High-performance DSP Coprocessor Architecture) |
전자공학회논문지-SD |
2002 |
23 |
0 |
1 |
0 |
3 |
3 |
16 |
| 내장된 자체 테스트 기법을 이용한 새로운 다중 클락 회로 테스트 방법론 |
전자공학회논문지-SD |
2002 |
21 |
0 |
0 |
0 |
3 |
2 |
16 |
| 시스템 온 칩 테스트를 위한 효과적인 테스트 접근 구조 |
전자공학회논문지-SD |
2002 |
46 |
0 |
2 |
6 |
14 |
5 |
19 |
| 이웃 패턴 감응 고장을 위한 효과적인 메모리 테스트 알고리듬 |
전자공학회논문지-SD |
2002 |
29 |
0 |
0 |
1 |
3 |
2 |
23 |
| 이중 포트 메모리를 위한 고장 진단 알고리듬 |
전자공학회논문지-SD |
2002 |
24 |
0 |
1 |
1 |
3 |
4 |
15 |
| 인터넷 전화 음질 개선을 위한 지능적인 버퍼관리 방식 |
대한전자공학회 학술대회 |
2002 |
2 |
0 |
0 |
0 |
1 |
1 |
0 |
| 패턴 집단 생성 방식을 사용한 내장형 자체 테스트 기법 |
전자공학회논문지-SD |
2002 |
18 |
0 |
0 |
2 |
3 |
0 |
13 |
| 혼성 신호 회로에 대한 효과적인 BIST |
전자공학회논문지-SD |
2002 |
28 |
0 |
6 |
6 |
4 |
3 |
9 |
| 내장된 자체 테스트 기법을 이용한 다중 클락 회로 테스트 방법론 |
대한전자공학회 기타 간행물 |
2001 |
6 |
0 |
0 |
0 |
0 |
0 |
6 |
| 다중 포트 메모리를 위한 고장 진단 알고리듬 |
대한전자공학회 기타 간행물 |
2001 |
16 |
0 |
0 |
2 |
0 |
7 |
7 |
| 독립고장과 양립 가능한 고장을 이용한 효율적인 테스트 패턴 압축 기법 ( An Efficient Algorithm for Test Pattern Compaction using Independent Faults and Compatible Faults ) |
전자공학회논문지-SD |
2001 |
11 |
0 |
0 |
0 |
2 |
2 |
7 |
| 마이크로파이프라인 회로를 위한 지연 고장 테스트 |
전자공학회논문지-SD |
2001 |
13 |
0 |
0 |
1 |
1 |
0 |
11 |
| 신경망 프로세서의 효과적인 구조 |
대한전자공학회 기타 간행물 |
2001 |
17 |
0 |
0 |
1 |
4 |
8 |
4 |
| 지연 고장 테스팅에 대한 고장 검출율 메트릭 ( Fault Coverage Metric for Delay Fault Testing ) |
전자공학회논문지-SD |
2001 |
9 |
0 |
0 |
1 |
0 |
1 |
7 |
| 퍼지-역전파 알고리즘을 이용한 ADALINE 구조 |
대한전자공학회 학술대회 |
2001 |
4 |
0 |
1 |
2 |
0 |
1 |
0 |
| 효과적인 연결 테스트를 위한 GNS 시퀀스 |
대한전자공학회 기타 간행물 |
2001 |
7 |
0 |
0 |
1 |
0 |
1 |
5 |
| HDR 기지국용 터보 복호기 구조 및 설계에 관한 연구 |
대한전자공학회 기타 간행물 |
2001 |
10 |
0 |
1 |
1 |
0 |
2 |
6 |
| IEEE P1149.1 기반의 효과적인 시스템 - 온 - 칩 테스트 제어 방법론 |
대한전자공학회 기타 간행물 |
2001 |
11 |
0 |
0 |
0 |
1 |
0 |
10 |
| 고성능 DSP 아키텍쳐 설계에 대한 연구 |
대한전자공학회 학술대회 |
2000 |
1 |
0 |
0 |
0 |
1 |
0 |
0 |
| 내장된 자체 테스트에서 경로 지연 고장 테스트를 위한 새로운 가중치 계산 알고리듬 ( New Weight Generation Algorithm for Path Delay Fault Test Using BIST ) |
전자공학회논문지-SD |
2000 |
23 |
1 |
0 |
1 |
2 |
4 |
15 |
| 단일 뉴런을 이용한 PID형 직접제어방식 |
대한전자공학회 학술대회 |
2000 |
6 |
0 |
3 |
0 |
3 |
0 |
0 |
| 동적 전원 공급 전류를 이용한 효율적인 SRAM 테스트 기법 |
전자공학회논문지-SD |
2000 |
8 |
0 |
0 |
1 |
0 |
1 |
6 |
| 순차 회로의 효율적인 지연 고장 검출을 위한 새로운 테스트 알고리듬 및 스캔 구조 |
전자공학회논문지-SD |
2000 |
11 |
0 |
0 |
1 |
3 |
3 |
4 |
| LMS 알고리즘을 이용한 Sigma Delta Modulator |
대한전자공학회 학술대회 |
2000 |
1 |
0 |
0 |
0 |
1 |
0 |
0 |
| 다중 주사 경로 회로 기판을 위한 내장된 자체 테스트 기법의 연구 ( A Study on Built-In Self Test for Boards with Multiple Scan Paths ) |
전자공학회논문지-C |
1999 |
18 |
0 |
0 |
2 |
0 |
2 |
14 |
| 효율적인 캐쉬 테스트 알고리듬 및 BIST 구조 ( An Effective Cache Test Algorithm and BIST Architecture ) |
전자공학회논문지-C |
1999 |
17 |
1 |
1 |
1 |
2 |
1 |
11 |
| ASIC 설계를 위한 원격 테스트 시스템 |
대한전자공학회 학술대회 |
1999 |
1 |
0 |
0 |
0 |
1 |
0 |
0 |
| SET기반 전자상거래의 보안위협요소 분석 및 대응 방안에 관한 연구 |
한국전자거래학회지 |
1999 |
23 |
1 |
2 |
1 |
4 |
4 |
11 |
| 가중치 집합 최적화를 통한 효율적인 가중 무작위 패턴 생성 ( Efficient Weighted Random Pattern Generation Using Weight Set Optimization ) |
전자공학회논문지-C |
1998 |
19 |
0 |
0 |
0 |
2 |
5 |
12 |
| 디지털 TV 용 칩 세트 |
전자공학회지 |
1998 |
2 |
0 |
1 |
0 |
0 |
0 |
1 |
| 병렬 테스트방법을 적용한 고집적 SRAM을 위한 내장된 자체 테스트 기법 ( Built-In Self Test for High Density SRAMs Using Parallel Test Methodology ) |
전자공학회논문지-C |
1998 |
24 |
0 |
2 |
3 |
1 |
4 |
14 |
| Content Addressable Memory의 이웃패턴감응고장 테스트를 위한 내장된 자체 테스트 기법 ( Built-In Self Test for Testing Neighborhood Pattern Sensitive Faults in Content Addressable Memories ) |
전자공학회논문지-C |
1998 |
14 |
0 |
0 |
0 |
0 |
2 |
12 |
| VLSI 테스팅 특집 - 특집 편집기 - |
전자공학회지 |
1998 |
1 |
0 |
0 |
0 |
0 |
0 |
1 |
| VLSI 테스팅의 기술 동향 |
전자공학회지 |
1998 |
7 |
0 |
1 |
0 |
2 |
0 |
4 |
| 빠른 무해 인식에 의한 효율적인 테스트 패턴 생성 ( An Efficient Test Pattern Generation Based on the Fast Redundancy Identification ) |
전자공학회논문지-C |
1997 |
8 |
1 |
0 |
0 |
1 |
1 |
5 |
| Testable DRAM Design |
대한전자공학회 학술대회 |
1997 |
5 |
0 |
0 |
1 |
4 |
0 |
0 |
| 새로운 논리값을 사용한 주사 환경을 위한 경로 지연 검사 입력 생성기에 관한 연구 |
대한전자공학회 학술대회 |
1996 |
3 |
0 |
0 |
0 |
0 |
3 |
0 |
| 새로운 논리값을 사용한 주사 환경을 위한 경로 지연 검사 입력 생성기에 관한 연구 ( An Efficient Path-Delay Fault Test Generator Using New Logic Values for Scan Design Environments ) |
대한전자공학회 학술대회 |
1996 |
1 |
0 |
0 |
1 |
0 |
0 |
0 |
| 표준 스캔 설계 환경을 위한 경로 지연 고장 검사입력 생성기 ( A Path-Delay Fault Test Generator for Standard Scan Design Environments ) |
전자공학회논문지-A |
1996 |
13 |
0 |
0 |
2 |
3 |
0 |
8 |
| 고속 디지털 거리 카메라의 구현 ( Implementation of a High Speed Digital Range Camera ) |
대한전자공학회 학술대회 |
1995 |
5 |
0 |
3 |
1 |
0 |
1 |
0 |
| 내장된 자체검사 기법 ( BIST ) 의 기술동향 |
전자공학회지 |
1995 |
20 |
0 |
2 |
1 |
2 |
2 |
13 |
| 디지털 고속 거리 영상화 센서의 설계 |
대한전자공학회 학술대회 |
1995 |
1 |
0 |
0 |
0 |
0 |
1 |
0 |
| 고속 Range Imaging 시스템의 구현 및 성능 분석 ( Implementation and Performance Analysis of a High Speed Range Imaging System ) |
대한전자공학회 학술대회 |
1994 |
2 |
0 |
0 |
1 |
0 |
1 |
0 |
| 디지털 방식을 이용한 고속 거리 영상화 시스템의 prototype 개발 ( Development of High-speed Range Imaging System prototype Using Digital Scheme ) |
대한전자공학회 워크샵 |
1993 |
10 |
0 |
0 |
0 |
2 |
3 |
5 |
| 고속 거리 영상화 센서의 prototype설계와 제작 |
대한전자공학회 학술대회 |
1992 |
1 |
0 |
0 |
0 |
1 |
0 |
0 |
| 음성명령과 비젼시스템을 이용한 지능형로보트 환경 구축 ( The Construction of intelligent Robot Environment Using Speech Recognition and Vision System ) |
대한전자공학회 학술대회 |
1992 |
1 |
0 |
0 |
0 |
1 |
0 |
0 |
| 전문 분류기를 이용한 이단계 필기체 숫자 인식 시스템 ( Two-stage Hand-written Digit Recognition System by using the Expert-classifiers ) |
전자공학회논문지-B |
1992 |
15 |
2 |
0 |
0 |
2 |
1 |
10 |
| 자동차 기관 계통의 고장 진단을 위한 전문가 시스템의 설계 ( A Study on Fault diagnostic Expert System for Part of Automotive Engine ) |
대한전자공학회 학술대회 |
1987 |
1 |
1 |
0 |
0 |
0 |
0 |
0 |