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권영규 (Y.K.Kwon)

소속기관
대한전자공학회
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직급
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연구경력
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주요 연구분야

  • 공학 > 전자/정보통신공학

저자의 연구 키워드

저자가 작성한 논문들의 주요 키워드입니다.

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저자의 논문 현황

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  • 논문수42
  • 발행기간1988 ~ 1996
  • 이용수947
  • 피인용수0

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  • 피인용 논문 제목
    • 피인용 논문 저자
게시판 목록
논문명 저널명 발행연도 이용수 피인용수
SiO2 / SOI 구조의 계면트랩밀도 측정 ( Evaluation of Interface Trap Density of SiO2 / SOI Structure ) 대한전자공학회 학술대회 1996 159 0
SiO₂/SOI 구조의 계면트랩밀도 측정 대한전자공학회 학술대회 1996 51 0
단전자소자제작을 위한 비정질 실리콘박막의 결정화에 관한 연구 대한전자공학회 학술대회 1996 6 0
단전자소자 제작을 위한 비정질 실리콘박막의 결정화에 관한 연구 ( Crystallization Characteristics of Amorphous Silicon Thin Films for Single Electron Device ( SED ) ) 대한전자공학회 학술대회 1996 4 0
SiGe 에피막의 열 산화 ( Thermal Oxidation of SiGe ) 대한전자공학회 학술대회 1996 2 0
SiCe 에피막의 열 산화 대한전자공학회 학술대회 1996 1 0
급속열처리에 따른 Si 이온주입 유기결함의 회복 거동 ( Annealing Behaviors of Various Defects in Si during Rapid Thermal Annealing ) 대한전자공학회 워크샵 1996 20 0
SIMOX SOI를 이용한 압저항의 제조와 특성 대한전자공학회 학술대회 1995 1 0
SIMOX SOI를 이용한 압저항의 제조와 특성 ( Fabrication and Characterization of the Piezoresistors Using SIMOX SOI Wafer ) 대한전자공학회 학술대회 1995 0 0
열처리조건이 Thermal Donors 의 발생과 CZ-Si의 전기적 특성에 미치는 효과 ( The Effect of Annealing Conditions on Formation of the Thernal Donors and Electrical Properties of CZ-Si ) 대한전자공학회 학술대회 1995 6 0
열처리 공정 개선에 의한 SIMOX SOI의 품질 향상 ( Improvement of SIMOX SOI Quality by Annealing Process Development ) 대한전자공학회 학술대회 1995 5 0
RTCVD법에 의한 실리콘 성장 및 특성 ( Characteristics of Silicon Epitaxial Films Grown by RTCVD Method ) 대한전자공학회 학술대회 1995 2 0
열처리 조건이 Thermal Donors의 발생과 CZ-Si의 전기적 특성에 미치는 효과 대한전자공학회 학술대회 1995 14 0
열처리공정 개선에 의한 SIMOX SOI의 품질향상 대한전자공학회 학술대회 1995 1 0
RTCVD법에의한 실리콘 에피막의 성장 및 특성 대한전자공학회 학술대회 1995 0 0
저 에너지 저도즈의 산소 이온주입에 의한 SIMOX SOI 구조의 제조 대한전자공학회 학술대회 1995 2 0
RTP에 의해 Si내로 확산된 Au 의 에너지준위 및 그 농도분포에 관한 연구 대한전자공학회 학술대회 1995 0 0
Si+ 이온주입된 Si 기판의 결함형성 및 회복에 관한 연구 ( Characteristics of Si + - self implant Damage and Its Annealing Behavior ) 전자공학회논문지-A 1994 24 0
Cz-Si wafer 내부에 발생하는 Thermal donors의 전기적 특성에 관한 연구 대한전자공학회 학술대회 1993 12 0
Cz-Si wafer 내부에 발생하는 Thermal donor의 전기적 특성에 관한 연구 ( The study on a electrical properties of the Thermal Donors in Cz-Si ) 대한전자공학회 학술대회 1993 11 0
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