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손윤식 (Young-Ho Jung)

소속기관
홍익대학교
소속부서
전자전기공학과
직급
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ORCID
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연구경력
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주요 연구분야

  • 공학 > 전자/정보통신공학

저자의 연구 키워드

저자가 작성한 논문들의 주요 키워드입니다.

저자의 연구 키워드
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저자의 논문 현황

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  • 논문수34
  • 발행기간1993 ~ 2018
  • 이용수152
  • 피인용수0

논문제목를 인용한 논문목록입니다.

  • 피인용 논문 제목
    • 피인용 논문 저자
게시판 목록
논문명 저널명 발행연도 이용수 피인용수
다중 타겟 인식 모의 실험의 통계적 접근 대한전자공학회 학술대회 2018 4 0
ATM망의 멀티미디어 데이터 처리를 위한 가입자단 플랫폼 전자공학회논문지-SD 2005 17 0
2-패턴 테스트를 고려한 스캔 기반 BIST 구조 전자공학회논문지-SD 2003 53 0
VoDSL 서비스에 최적화된 ATM SAR 프로세서 전자공학회논문지-SD 2003 18 0
저 전력소모와 높은 테스트용이성을 위한 새로운 논리 변환 방법 전자공학회논문지-SD 2003 16 0
스캔 분할 기법을 이용한 저전력 Test-Per-Scan BIST 대한전자공학회 학술대회 2003 16 0
회로분할과 테스트 입력 벡터 제어를 이용한 저전력 Scan-based BIST 설계 대한전자공학회 학술대회 2001 2 0
저전력 입출력을 위한 반복적인 버스반전 부호화 ( Recursive Bus-Invert Coding for Low-Power I / O ) 대한전자공학회 학술대회 1998 2 0
저전력 입출력을 위한 반복적인 버스반전 부호화 대한전자공학회 학술대회 1998 1 0
저전력 소모와 테스트 용이성을 고려한 회로 설계 ( A Study on Low Power and Design-For-Testability Techniques of Digital IC ) 대한전자공학회 학술대회 1998 1 0
저전력 소모와 테스트 용이성을 고려한 회로 설계 대한전자공학회 학술대회 1998 8 0
VLSI 회로내의 RPR 고장의 검출을 위한 2-Phase 혼합모드 내장 자체 테스트 기법 ( 2-Phase Mixed-Mode BIST For the Detection of RPR Faults in VLSI Circuits ) 대한전자공학회 학술대회 1997 2 0
VLSI 회로내의 RPR 고장의 검출을 위한 2-Phase 혼합 모드 내장 자체 테스트 기법 대한전자공학회 학술대회 1997 0 0
내장 자체 테스트를 위한 프로그래머블 공간 응답 압축기 설계 대한전자공학회 학술대회 1996 0 0
내장 자체 테스트를 위한 프로그래머블 공간 응답 압축기 설계 ( The Design Technique Or Programmable Space Response Compactors for BIST ) 대한전자공학회 학술대회 1996 0 0
단일 입력 변환을 이용한 가중화 랜덤 로버스트 지연 테스트 생성기 ( A Weighted Random Robust Delay Test Generator Using the Single Input Change ) 대한전자공학회 학술대회 1996 0 0
전류 테스팅 기법을 이용한 CMOS 회로의 고장 검출 및 위치 결정 대한전자공학회 학술대회 1995 0 0
BiCMOS 회로의 게이트 레벨 회로 변환을 이용한 Stuck-Open 고장 검출 대한전자공학회 학술대회 1995 0 0
조합 논리 회로의 경로 지연고장 검출을 위한 효율적인 가중화 임의 패턴 생성 방법 ( An Efficient Weighted Random Pattern Generation Method for Detection of a Path Delay Fault in a Combinational Logic Circuits ) 대한전자공학회 학술대회 1995 2 0
Built-In 자체 테스트 기법을 이용한 비디오램의 효율적인 고장 검출 ( Efficient Fault Detection for Video RAMs Using Built-In Self-Testing Techniques ) 대한전자공학회 학술대회 1994 2 0
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