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서영수 (Youngsoo Seo)

소속기관
Seoul National University
소속부서
Department of Electrical and Computer Engineering
직급
-
ORCID
-
연구경력
-

주요 연구분야

  • 자연과학 > 물리학
  • 공학 > 전자/정보통신공학

저자의 논문 현황

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  • 논문수21
  • 발행기간1997 ~ 2017
  • 이용수798
  • 피인용수0

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  • 피인용 논문 제목
    • 피인용 논문 저자
게시판 목록
논문명 저널명 발행연도 이용수 피인용수
Analysis and Comparison of Intrinsic Characteristics for Single and Multi-channel Nanoplate Vertical FET Devices JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE 2017 19 0
Nanowire FET에서 채널과 기판 사이 산화막 두께와 도핑에 따른 GIDL 분석 대한전자공학회 학술대회 2016 33 0
Analysis of on current-boosting and hot carrier degradation considering trenched source/drain in 5nm node stacked nanowire FET 한국진공학회 학술발표회초록집 2016 9 0
Analysis on self heating effect on trench structure in 5 nm node 3D stacked nanowire FET 한국진공학회 학술발표회초록집 2016 4 0
도핑 농도에 따른 유전율 변화를 고려한 실리콘 내부의 단일 트랩에 의한 전계변화 대한전자공학회 학술대회 2015 19 0
Si Bulk-FinFET의 게이트 길이 감소에 따른 비이상적인 커패시턴스-전압 특성 분석 대한전자공학회 학술대회 2015 18 0
Strain 기술과 계면 결함에 따른 nFinFET의 커패시턴스-전압 특성 분석 대한전자공학회 학술대회 2015 10 0
Planar MOSFET에서 측정을 통한 순수한 Gate Induced Drain Leakage (GIDL) 추출 방법 대한전자공학회 학술대회 2015 130 0
시뮬레이션을 통한 MOSFET 산화막 내부트랩의 영향 비교분석 대한전자공학회 학술대회 2015 50 0
정확환 Field Enhancement Factor를 고려하여 트랩 종류에 따른 트랩사이 거리 추출 대한전자공학회 학술대회 2015 50 0
실리콘 내부에 있는 slow trap에 의한 TAT 전류 변화 분석 대한전자공학회 학술대회 2015 46 0
GIDL 전류 RTN을 발생시키는 트랩 특성에 대한 통계적 분석 대한전자공학회 학술대회 2015 46 0
n-FinFET과 p-FinFET의 스페이서 길이에 따른 충돌이온화 특성 비교 대한전자공학회 학술대회 2015 42 0
I/O FinFET에서 로컬도핑에 대한 고온캐리어 열화 효과 분석 대한전자공학회 학술대회 2015 28 0
nFinFET과 pFinFET의 Fin 폭에 따른 충돌 이온화 비교 대한전자공학회 학술대회 2015 24 0
Analysis of Hot Carrier Injection according to Doping Concentration in Channel/Substrate and Spacer Length in Bulk-FinFET ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications 2015 23 0
Trap Type Dependence of Modulation in TAT Gate-Induced Drain Leakage ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications 2015 15 0
SiGe p-FinFET의 C-V 특성을 이용한 평균 계면 결함 밀도 추출과 Terman의 방법을 이용한 검증 전자공학회논문지 2015 224 0
ATM / B-ISDN 프로토콜의 ATM 계층을 위한 적합성시험시스템 개발 ( Development of Conformance Test System for the ATM Layer of ATM / B-ISDN Protocols ) 대한전자공학회 학술대회 1998 1 0
화이트박스 재사용 컴포넌트를 위한 이해 지원 도구의 설계 대한전자공학회 학술대회 1997 7 0
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