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송근호 (G. H. Song)

소속기관
대한전자공학회
소속부서
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직급
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연구경력
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주요 연구분야

  • 공학 > 전자/정보통신공학

저자의 연구 키워드

저자가 작성한 논문들의 주요 키워드입니다.

저자의 연구 키워드
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저자의 논문 현황

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  • 논문수19
  • 발행기간1995 ~ 2001
  • 이용수178
  • 피인용수0

논문제목를 인용한 논문목록입니다.

  • 피인용 논문 제목
    • 피인용 논문 저자
게시판 목록
논문명 저널명 발행연도 이용수 피인용수
IPM용 IGBT Gate Driver IC 설계 대한전자공학회 기타 간행물 2001 52 0
Switched - Capacitor DC - DC Converter 설계 대한전자공학회 기타 간행물 2001 35 0
주파수 특성을 이용한 내장된 CMOS 연산증폭기의 테스트 방식 및 테스트를 고려한 설계 대한전자공학회 기타 간행물 2001 13 0
고속 저전력 곱셈기를 위한 새로운 부분곱 압축기와 ENMODL CLA의 설계 대한전자공학회 학술대회 2001 3 0
오프셋 전압을 이용한 CMOS 연산증폭기의 테스팅 ( Testing of CMOS Operational Amplifier Using Offset Voltage ) 전자공학회논문지-SD 2001 21 0
오프셋과 고주파수를 이용한 연산증폭기의 새로운 테스트 방식 대한전자공학회 학술대회 2000 6 0
CMOS 연산 증폭기의 고장 모델 분석 및 고장 집합의 간략화 대한전자공학회 학술대회 1999 1 0
오프셋 전압을 이용한 CMOS 연산 증폭기의 새로운 테스팅 기법 대한전자공학회 학술대회 1998 9 0
오프셋 전압을 이용한 CMOS 연산 증폭기의 새로운 테스팅 기법 ( Novel Testing Method of CMOS Operation Amplifier Using Offset Voltage ) 대한전자공학회 학술대회 1998 1 0
칩 면적이 작고 동작속도가 빠른 32 비트 가산기 설계 및 구현 ( Design and Implementation of a 32 Bit Adder having Fast Performance and Small Size ) 대한전자공학회 학술대회 1997 19 0
IDDQ 테스팅을 위한 BIC의 설계 및 구현 ( Design and Implementation of a Built-in Current Sensor for IDDQ Testing ) 대한전자공학회 학술대회 1997 0 0
새로운 동적 컴팩션 알고리즘을 이용한 IDDQ 테스트 세트 생성 대한전자공학회 학술대회 1996 1 0
새로운 동적 컴팩션 알고리즘을 이용한 IDDQ 테스트 세트 생성 ( IDDQ Test Set Generation Using A New Dynamic Compaction Algorithm ) 대한전자공학회 학술대회 1996 1 0
CMOS VLSI의 IDDQ 테스팅을 위한 테스트 세트 간략화에 관한 연구 ( A Study on Test Set Compaction for IDDQ Testing in CMOS VLSI ) 대한전자공학회 학술대회 1996 1 0
개선된 MODL을 이용한 고성능 32비트 CLA가산기 설계 ( Design of a High-Performance 32-Bit CLA Adder Using Enhanced NORA MODL ) 대한전자공학회 학술대회 1995 2 0
CMOS VLSI의 전류 테스팅을 위한 자동테스트 패턴 생성기의 구현 ( Implementation of Automatic Test Pattern Generator for Current Testing In CMOS VLSI ) 대한전자공학회 학술대회 1995 0 0
개선된 MODL을 이용한 고성능 32 비트 CLA 가산기 설계 대한전자공학회 학술대회 1995 12 0
CMOS VLSI의 전류 테스팅을 위한 자동 테스트 패턴 생성기의 구현 대한전자공학회 학술대회 1995 0 0
개선된 MODL의 IDDQ 테스팅 기법 ( IDDQ testing technique of the Enhanced Multiple Output Domino Logic ( MODL ) ) 대한전자공학회 학술대회 1995 1 0