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안창근 (Chang-Geun Ahn)

소속기관
한국전자통신연구원
소속부서
나노전자소자팀
직급
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ORCID
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연구경력
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주요 연구분야

  • 자연과학 > 물리학
  • 공학 > 전자/정보통신공학

저자의 연구 키워드

저자가 작성한 논문들의 주요 키워드입니다.

저자의 연구 키워드
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저자의 논문 현황

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  • 논문수23
  • 발행기간1995 ~ 2010
  • 이용수613
  • 피인용수0

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  • 피인용 논문 제목
    • 피인용 논문 저자
게시판 목록
논문명 저널명 발행연도 이용수 피인용수
실리콘 나노선의 전자수송특성 연구 한국진공학회 학술발표회초록집 2010 17 0
실리콘 나노선의 표면전하 거동연구 한국진공학회 학술발표회초록집 2009 8 0
W-C-N 확산방지막의 전자거동(electromigration) 특성과 표면 강도(surface hardness) 특성 연구 한국진공학회 학술발표회초록집 2009 20 0
실리콘 기반의 고감도 바이오 센서 제작 및 특성 한국진공학회 학술발표회초록집 2007 54 0
쇼트키 장벽 소스/드레인을 가지는 실리콘 MOSFET의 소자 구조 및 전기적 특성에 대한 검토 한국진공학회 학술발표회초록집 2006 48 0
SOI를 이용한 Non - classical Nano - CMOS 소자 기술 한국진공학회 학술발표회초록집 2004 18 0
Effect of rapid thermal annealing on interface trap density by using subthreshold slope technique in the FD SOI MOSFETs 대한전자공학회 학술대회 2003 43 0
Elevated Polysilicon source/drain 구조와 고유전율 절연막을 적용한 초미세 SOI MOSFET 의 제작 및 특성 연구 대한전자공학회 학술대회 2003 25 0
Silicon Thin-body를 이용한 100㎚ 이하 SOI-NMOSFET에서의 제작 대한전자공학회 학술대회 2003 22 0
Si 기판에서의 광소자 응용을 위한 Ge 박막의 Transfer 기술개발 대한전자공학회 학술대회 2003 17 0
Hot carrier 스트레스에 의한 LDD n-MOSFET의 열화 특성 파악 및 새로운 Idlin 열화 모델 구현 대한전자공학회 학술대회 2002 27 0
SiO2 / SOI 구조의 계면트랩밀도 측정 ( Evaluation of Interface Trap Density of SiO2 / SOI Structure ) 대한전자공학회 학술대회 1996 164 0
SiO₂/SOI 구조의 계면트랩밀도 측정 대한전자공학회 학술대회 1996 54 0
SiGe 에피막의 열 산화 ( Thermal Oxidation of SiGe ) 대한전자공학회 학술대회 1996 2 0
SiCe 에피막의 열 산화 대한전자공학회 학술대회 1996 1 0
Si₁-xGex / Si 이종접합 에피막 구조에서의 misfit threading dislocation 특성 한국진공학회 학술발표회초록집 1996 29 0
기생저항 효과를 제거한 SOI 구조의 전기적 틍성분석 한국진공학회 학술발표회초록집 1996 28 0
산소 분위기 산화에서의 SiGe 에피막의 특성 한국진공학회 학술발표회초록집 1996 12 0
3단계 식각법을 이용한 SIMOX SOI의 결함분석 한국진공학회 학술발표회초록집 1996 2 0
열처리조건이 Thermal Donors 의 발생과 CZ-Si의 전기적 특성에 미치는 효과 ( The Effect of Annealing Conditions on Formation of the Thernal Donors and Electrical Properties of CZ-Si ) 대한전자공학회 학술대회 1995 6 0
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