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고형우 (Hyungwoo Ko)

소속기관
서울대학교
소속부서
전기정보공학부
직급
-
ORCID
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연구경력
-

주요 연구분야

  • 자연과학 > 물리학
  • 공학 > 전자/정보통신공학

저자의 연구 키워드

저자가 작성한 논문들의 주요 키워드입니다.

저자의 연구 키워드
#Acceptor-like Trap
#Capture Cross Section
#Donor-like Trap
#Electric Field

저자의 논문 현황

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  • 논문수13
  • 발행기간2015 ~ 2018
  • 이용수522
  • 피인용수0

논문제목를 인용한 논문목록입니다.

  • 피인용 논문 제목
    • 피인용 논문 저자
게시판 목록
논문명 저널명 발행연도 이용수 피인용수
시뮬레이션을 통한 게이트-소스/드레인 간 Overlap 길이에 따른 GAA FET의 Extension 저항 추출 및 분석 대한전자공학회 학술대회 2018 59 0
Intrinsic Gate Delay를 고려한 Nanowire-FET에서의 채널 간 간격 분석 대한전자공학회 학술대회 2016 21 0
Design guideline for 5 nm node nanowire FET considering parasitic resistance and capacitance 한국진공학회 학술발표회초록집 2016 5 0
Fundamental trade-off between parasitic resistance and capacitance in a nanowire-FET technology 한국진공학회 학술발표회초록집 2016 5 0
Planar MOSFET에서 측정을 통한 기생 커패시턴스 추출 방법 대한전자공학회 학술대회 2015 34 0
도핑 농도에 따른 유전율 변화를 고려한 실리콘 내부의 단일 트랩에 의한 전계변화 대한전자공학회 학술대회 2015 24 0
MOSFET에서 트랩의 전계와 SRH 전류 변화에 따른 TAT GIDL 전류 변화 분석 및 검증 대한전자공학회 학술대회 2015 17 0
Planar MOSFET에서 측정을 통한 순수한 Gate Induced Drain Leakage (GIDL) 추출 방법 대한전자공학회 학술대회 2015 140 0
시뮬레이션을 통한 MOSFET 산화막 내부트랩의 영향 비교분석 대한전자공학회 학술대회 2015 53 0
정확환 Field Enhancement Factor를 고려하여 트랩 종류에 따른 트랩사이 거리 추출 대한전자공학회 학술대회 2015 51 0
실리콘 내부에 있는 slow trap에 의한 TAT 전류 변화 분석 대한전자공학회 학술대회 2015 49 0
GIDL 전류 RTN을 발생시키는 트랩 특성에 대한 통계적 분석 대한전자공학회 학술대회 2015 49 0
Trap Type Dependence of Modulation in TAT Gate-Induced Drain Leakage ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications 2015 15 0