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한인식 (In-Shik Han)

소속기관
Magnachip Semiconductor
소속부서
전자정보통신공학과
직급
-
ORCID
-
연구경력
-

주요 연구분야

  • 공학 > 전자/정보통신공학

저자의 논문 현황

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  • 논문수18
  • 발행기간2004 ~ 2013
  • 이용수1,223
  • 피인용수0

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  • 피인용 논문 제목
    • 피인용 논문 저자
게시판 목록
논문명 저널명 발행연도 이용수 피인용수
Dependence of the 1/f Noise Characteristics of CMOSFETs on Body Bias in Sub-threshold and Strong Inversion Regions JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE 2013 24 0
Strained-Si PMOSFET에서 디지털 및 아날로그 성능의 캐리어 방향성에 대한 의존성 전자공학회논문지-SD 2010 74 0
플라즈마 질화산화막을 적용한 CMOSFET의 질소 농도에 따른 저주파 잡음 특성 분석 대한전자공학회 학술대회 2010 51 0
플라즈마 질화산화막을 적용한 CMOSFET의 질소 농도에 따른 저주파 잡음 특성 분석 대한전자공학회 학술대회 2010 8 0
CMOS 공정을 이용한 BJT의 Matching 특성 분석 대한전자공학회 학술대회 2009 52 0
고전압 및 저전압 NMOSFET 소자의 Hot Carrier 열화 특성 대한전자공학회 학술대회 2008 57 0
Charge Pumping Method를 이용한 Silicon-Al2O3-Nitride- Oxide-Silicon Flash Memory Cell Transistor의 트랩과 소자 특성 분석 전자공학회논문지-SD 2008 254 0
Nano-Scale CMOSFET에서 Contact Etch Stop Layer의 Mechanical Film Stress에 대한 소자특성 분석 전자공학회논문지-SD 2008 148 0
Nano scale PMOSFET에서 Channel Stress에 의한 DC 특성 및 Channel Back Scattering의 변화 관찰 대한전자공학회 학술대회 2007 7 0
Lanthanum이 혼입된 고유전 게이트 산화막에서의 온도에 따른 캐리어 이동 특성 대한전자공학회 학술대회 2007 3 0
SANOS 메모리 셀 트랜지스터의 다른 Charge Trapping layer에 따른 전기적 특성 및 신뢰성 분석 대한전자공학회 학술대회 2007 13 0
SANOS 메모라 셀 트랜지스터의 다른 Charge Trapping layer에 따른 전기적 특성 및 신뢰성 분석 대한전자공학회 학술대회 2007 10 0
Hot carrier 개선을 위한 N2 이온주입에 따른 MOSFET의 Digital/Analog 특성 분석 대한전자공학회 학술대회 2006 19 0
Post-Metallization Annealing 시 passivation 막이 나노 NMOSFET 용 I/O 소자의 핫-캐리어 특성에 미치는 영향 대한전자공학회 학술대회 2006 2 0
Nano CMOSFET에서 Channel Stress가 소자에 미치는 영향 분석 전자공학회논문지-SD 2006 179 0
새로운 BEOL 공정을 이용한 NBTI 수명시간 개선 전자공학회논문지-SD 2006 110 0
고속 반도체 소자에서 배선 간의 Crosstalk에 의한 Coupling Capacitance 변화 분석 전자공학회논문지-SD 2005 93 0
Capacitance-Voltage 방법을 이용한 MOSFET의 유효 채널 길이 추출 전자공학회논문지-SD 2004 119 0