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홍태은

소속기관
한국기초과학지원연구원
소속부서
부산센터
직급
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ORCID
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연구경력
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주요 연구분야

  • 자연과학 > 물리학
  • 자연과학 > 천문/지구과학
  • 공학 > 기계공학
  • 공학 > 자원/재료공학

저자의 연구 키워드

저자가 작성한 논문들의 주요 키워드입니다.

저자의 연구 키워드
#Analytical method
#Elemental Distribution
#Ion Microprobe
#Nano SIMS
#Secondary Ion Mass Spectrometry
#Surface Imaging

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  • 논문수17
  • 발행기간1999 ~ 2019
  • 이용수429
  • 피인용수0

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    • 피인용 논문 저자
게시판 목록
논문명 저널명 발행연도 이용수 피인용수
이차이온질량분석기의 원리와 분석법 동향 세라미스트 2019 0 0
차세대 소재 연구를 위한 고진공 표면 분석 기술 응용 한국표면공학회 학술발표회 초록집 2018 9 0
A New Approach to Surface Imaging by Nano Secondary Ion Mass Spectrometry 한국진공학회 학술발표회초록집 2016 5 0
산소 동위원소를 이용한 산화물 이온 전도체의 산소 확산 거동 연구 한국진공학회 학술발표회초록집 2014 4 0
The Study on Cu2ZnSnSe4 Thin Films without Annealed Grown by Pulsed Laser Deposition for Solar Cells 한국진공학회 학술발표회초록집 2014 2 0
남극 중앙해령 현무암질 암석의 할로겐 원소 분석 대한지질학회 학술대회 2013 23 0
SIMS를 이용한 Si/Ge 다층박막의 조성 깊이 분포 분석 연구 한국진공학회 학술발표회초록집 2007 75 0
델타다층박막을 이용한 Stylus Profilometer에 의한 단차 측정의 새로운 깊이 단위 보정법 한국진공학회 학술발표회초록집 2006 20 0
XPS를 이용한 ㎚급 산화막 박막 두께 측정법 연구 한국진공학회 학술발표회초록집 2004 121 0
XRR을 이용한 ALD HfxAlyOz 박막의 물성 변화 관찰 한국진공학회 학술발표회초록집 2004 58 0
XPS Depth profiling of Ultra Thin Oxynitride Film 한국진공학회 학술발표회초록집 2004 40 0
Ar+-ion Bombardment가 Bi - 계 박막의 조성과 화학 결합 상태에 미치는 영향 평가 한국진공학회 학술발표회초록집 2002 6 0
Accurate SIMS Depth Profiling of Ultra Shallow Phosphorus & Arsenic by Oxygen Flooding 한국진공학회 학술발표회초록집 2002 3 0
As / Si 초 다층박막에서의 이차이온질량분석법의 정량 및 깊이 분포 측정 한국진공학회 학술발표회초록집 2002 24 0
Quantitative depth profile of Nitrogen in ultrathin Oxynitride film with SIMS and MEIS 한국진공학회 학술발표회초록집 2002 8 0
Magnetic Sector SIMS을 이용한 Ultra Thin Oxynitride Film 분석 한국진공학회 학술발표회초록집 2000 7 0
Magnetic Sector SIMS의 Sample Holder위치에 따르는 RSF (Relative Sensitivity Factor) 변화 검증 한국진공학회 학술발표회초록집 1999 24 0