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김윤 (Yoon Kim)

소속기관
서울대학교
소속부서
전기ㆍ컴퓨터공학부
직급
-
ORCID
-
연구경력
-

주요 연구분야

  • 공학 > 전자/정보통신공학 TOP 10%
  • 공학 > 컴퓨터학
  • 복합학 > 학제간연구

저자의 논문 현황

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  • 논문수58
  • 발행기간2001 ~ 2014
  • 이용수2,930
  • 피인용수1

논문제목를 인용한 논문목록입니다.

  • 피인용 논문 제목
    • 피인용 논문 저자
게시판 목록
논문명 저널명 발행연도 이용수 피인용수
사진의 자동 구도 보정 제시 기법 한국컴퓨터정보학회논문지 2014 76 0
고속 컨텐츠 인식 동영상 리타겟팅 기법 한국컴퓨터정보학회논문지 2013 24 0
Method to Mitigate Threshold Voltage and ON-Cell Current Variation Caused by Cell Gate Length Fluctuation in NAND Flash Memory with Virtual Source and Drain 대한전자공학회 학술대회 2012 12 0
3차원 적층 NAND 플래시 메모리의 설계 및 특성 분석 대한전자공학회 학술대회 2011 331 0
컨텐츠 기반 영상 리타겟팅을 위한 실시간 처리 기법 전자공학회논문지-SP 2011 100 0
내용기반 동영상 기하학적 변환을 위한 실시간 처리 기법 전자공학회논문지-SP 2011 70 0
적층형 낸드 플래시 메모리에서 절연막 두께에 따른 게이트 간의 누설 전류에 관한 연구 대한전자공학회 학술대회 2010 72 0
3차원으로 적층된 수직형 NAND 플래시 메모리 특성 분석 대한전자공학회 학술대회 2010 509 0
3차원 적층형 낸드 플래시 메모리에서의 인접 셀 간 수직 누화 현상 대한전자공학회 학술대회 2010 223 0
GAA(Gate-All-Around) 구조의 SONOS 플래시 메모리 리텐션 특성 분석 대한전자공학회 학술대회 2010 91 0
3차원으로 적층된 수직형 NAND 플래시 메모리 특성 분석 대한전자공학회 학술대회 2010 62 0
Bit line stacked 어레이에서 gate all around 구조와 double gate 구조의 특성 연구 대한전자공학회 학술대회 2010 44 0
GAA(Gate-All-Around) 구조의 SONOS 플래시 메모리 리텐션 특성 분석 대한전자공학회 학술대회 2010 40 0
3차원 적층형 낸드 플래시 메모리에서의 인접 셀 간 수직 누화 현상 대한전자공학회 학술대회 2010 31 0
Investigation of Current Degradation Induced by Silicide Source/Drain in the nanowire NAND Flash Memory 대한전자공학회 학술대회 2010 28 0
Bit line stacked 어레이에서 gate all around 구조와 double gate 구조의 특성 연구 대한전자공학회 학술대회 2010 10 0
YCbCr 컬러 모델에서의 조건 검사와 적응적 차영상을 이용한 화염 및 연기 검출 알고리즘 한국컴퓨터정보학회논문지 2010 53 0
수직형 4-비트 SONOS를 이용한 고집적화된 3차원 NOR 플래시 메모리 전자공학회논문지-SD 2010 102 1
3차원 구조의 차단 게이트를 이용한 2-비트 낸드플래시 메모리의 pinch-off 현상에 따른 최적 읽기 구동 방법 대한전자공학회 학술대회 2009 31 0
Bandgap Engineering 도입하여 향상된 홀 터널링 특성을 구현한 SONOS 플래쉬 메모리 소자 대한전자공학회 학술대회 2009 72 0
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