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정종완 (Jongwan Jung)

소속기관
세종대학교
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연구경력
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주요 연구분야

  • 자연과학 > 물리학
  • 공학 > 전자/정보통신공학

저자의 논문 현황

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  • 논문수34
  • 발행기간1991 ~ 2018
  • 이용수667
  • 피인용수0

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  • 피인용 논문 제목
    • 피인용 논문 저자
게시판 목록
논문명 저널명 발행연도 이용수 피인용수
알루미늄의 열적 확산을 이용한 저온 증착 탄화실리콘 박막의 결정화 및 전기 전도성 확보에 관한 연구 한국진공학회 학술발표회초록집 2018 10 0
표면 스트레스 완화 패턴을 이용한 저온 증착 탄화실리콘 박막의 고온 내성 확보 및 결정화에 관한 연구 한국진공학회 학술발표회초록집 2017 7 0
CVD 및 PVD를 이용한 2차원 TMDC 성장연구 한국진공학회 학술발표회초록집 2014 194 0
SiO₂/HfO₂/Al₂O₃ 구조의 터널링 절연막을 가지는 차세대 비휘발성 메모리의 급속 열처리 효과 대한전자공학회 학술대회 2009 30 0
SiO₂/HfO₂/Al₂O₃ 구조의 터널링 절연막을 가지는 차세대 비휘발성 메모리의 급속 열처리 효과 대한전자공학회 학술대회 2009 6 0
대면적 그라핀 sheet 형성 방법에 관한 연구 한국진공학회 학술발표회초록집 2009 76 0
Programming/Erasing Characteristics of HfO2 Charge Trap Flash Memory with SiO₂/ZrO₂ as Engineered Tunnel Barrier 한국진공학회 학술발표회초록집 2009 17 0
Improved Erasing Characteristics of Tunnel Barrier Engineered Charge Trap Flash Memory with HfO₂ Charge Trap Layer 한국진공학회 학술발표회초록집 2009 16 0
TONOS (TiN-Oxide-Nitride-Oxide-Si) Flash Memory with ONO and NON Tunneling Barriers 한국진공학회 학술발표회초록집 2009 15 0
Effect of heat treatment on HfO₂ charge trapping layer for engineered tunnel barrier non-volatile memory 한국진공학회 학술발표회초록집 2009 12 0
Annealing effect of Engineered Tunnel Barrier with Asymmetrical SiO2/ZrO2 stacks 한국진공학회 학술발표회초록집 2009 11 0
Improved memory characteristics using high-k materials for charge trap layer and engineered tunnel barrier 한국진공학회 학술발표회초록집 2009 9 0
열처리가 1-transistor DRAM cell의 메모리 특성에 미치는 영향 한국진공학회 학술발표회초록집 2009 8 0
Temperature Dependency of Tunnel Barrier Enginnered (TBE) Charge Trap Flash (CTF) Memory 한국진공학회 학술발표회초록집 2009 8 0
Investigation of stacked tunnel barrier with high-k materials for application to non-volatile memory devices 한국진공학회 학술발표회초록집 2009 2 0
HfO₂와 AlO₃를 이용한 터널링 절연막의 전기적 특성 한국진공학회 학술발표회초록집 2008 16 0
차세대 비휘발성 메모리를 위한 TBE (Tunnel Barrier Engineered) 절연막의 전기적 특성 비교 한국진공학회 학술발표회초록집 2008 4 0
Tunnel Barrier Engineering for Non-Volatile Memory JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE 2008 79 0
Ultrathin-Body (UTB) Strained-Si-on-Insulator (sSOI) MOSFET에서 채널두께에 따른 전자이동도 변화 한국진공학회 학술발표회초록집 2008 47 0
SOI의 Interface trap이 1T-DRAM의 특성에 미치는 영향연구 한국진공학회 학술발표회초록집 2008 21 0
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