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고결 (Kyul Ko)

소속기관
Seoul National University
소속부서
Department of Electrical and Computer Engineering
직급
-
ORCID
-
연구경력
-

주요 연구분야

  • 자연과학 > 물리학
  • 공학 > 전자/정보통신공학

저자의 논문 현황

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  • 논문수26
  • 발행기간2009 ~ 2017
  • 이용수938
  • 피인용수1

논문제목를 인용한 논문목록입니다.

  • 피인용 논문 제목
    • 피인용 논문 저자
게시판 목록
논문명 저널명 발행연도 이용수 피인용수
Analysis and Comparison of Intrinsic Characteristics for Single and Multi-channel Nanoplate Vertical FET Devices JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE 2017 19 0
수직 구조 나노와이어 펫의 구조적 특징에 따른 기생 커패시턴스 성분 및 RC 지연 분석 대한전자공학회 학술대회 2016 18 0
Impact of line edge roughness (LER) on single and three stacked nanowire FET in 5 nm node logic devices 한국진공학회 학술발표회초록집 2016 5 0
Analysis of work function variation and process variation effect for 5nm node 3D stacked nanowire FET devices 한국진공학회 학술발표회초록집 2016 4 0
Planar MOSFET에서 측정을 통한 기생 커패시턴스 추출 방법 대한전자공학회 학술대회 2015 34 0
도핑 농도에 따른 유전율 변화를 고려한 실리콘 내부의 단일 트랩에 의한 전계변화 대한전자공학회 학술대회 2015 23 0
MOSFET에서 트랩의 전계와 SRH 전류 변화에 따른 TAT GIDL 전류 변화 분석 및 검증 대한전자공학회 학술대회 2015 16 0
Planar MOSFET에서 측정을 통한 순수한 Gate Induced Drain Leakage (GIDL) 추출 방법 대한전자공학회 학술대회 2015 138 0
시뮬레이션을 통한 MOSFET 산화막 내부트랩의 영향 비교분석 대한전자공학회 학술대회 2015 51 0
정확환 Field Enhancement Factor를 고려하여 트랩 종류에 따른 트랩사이 거리 추출 대한전자공학회 학술대회 2015 51 0
실리콘 내부에 있는 slow trap에 의한 TAT 전류 변화 분석 대한전자공학회 학술대회 2015 48 0
GIDL 전류 RTN을 발생시키는 트랩 특성에 대한 통계적 분석 대한전자공학회 학술대회 2015 46 0
Trap Type Dependence of Modulation in TAT Gate-Induced Drain Leakage ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications 2015 15 0
공간불변 점확산 함수를 이용한 영상복원방식 대한전자공학회 학술대회 2010 70 1
하이브리드 고속 영상 복원 방식 한국통신학회논문지 2010 47 0
실시간 역광 보정을 위한 적응적 레티넥스 대한전자공학회 학술대회 2010 159 0
공간 불변 점확산 함수를 이용한 영상 해상도 개선 대한전자공학회 학술대회 2010 73 0
적응 반복 하이브리드 알고리즘을 이용한 빠른 영상 복원 방식 대한전자공학회 학술대회 2010 40 0
실시간 역광 보정을 위한 적응적 레티넥스 대한전자공학회 학술대회 2010 36 0
공간 불변 점확산 함수를 이용한 영상 해상도 개선 대한전자공학회 학술대회 2010 14 0
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