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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 2003.11
- 수록면
- 1,560 - 1,565 (6page)
이용수
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2004
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Tapping mode atomic force microscopy (TM-AFM) utilizes the dynamic response of a resonating probe
tip as it approaches and retracts from a sample to measure the topography and material properties of a
nanostructure. We present recent results based on nonlinear dynamical systems theory, computational
continuation techniques and detailed experiments that yield new perspectives and insight into AFM. A
dynamic model including van der Waals and Derjaguin-Muller-Toporov (DMT) contact forces demonstrates
that periodic solutions can be represented with respect to the approach distance and excitation frequency.
Turning points on the surface lead to hysteretic amplitude jumps as the tip nears/retracts from the sample.
Experiments are performed using a tapping mode tip on a graphite sample to verify the predictions.
tip as it approaches and retracts from a sample to measure the topography and material properties of a
nanostructure. We present recent results based on nonlinear dynamical systems theory, computational
continuation techniques and detailed experiments that yield new perspectives and insight into AFM. A
dynamic model including van der Waals and Derjaguin-Muller-Toporov (DMT) contact forces demonstrates
that periodic solutions can be represented with respect to the approach distance and excitation frequency.
Turning points on the surface lead to hysteretic amplitude jumps as the tip nears/retracts from the sample.
Experiments are performed using a tapping mode tip on a graphite sample to verify the predictions.
목차
Abstract
1. 서론
2. 실험
3. 모델링
4. 비선형 응답
5. 결론
참고문헌
참고문헌 (0)
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