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Korean Institute of Information Scientists and Engineers 한국정보과학회 학술발표논문집 한국정보과학회 1993년도 가을 학술발표논문집 제20권 제2호
발행연도
1993.10
수록면
1,006 - 1,009 (4page)

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본 논문에서는 지연고장 테스트를 위한 효율적인 Boundary 스캔 셀을 설계하고 테스트 패턴 인가 시간을 줄임으로써 전체 테스트 시간을 줄이도록 한다. 제안된 방식은 지연 고장 테스트시 필요한 초기화 패턴과 테스트 패턴을 저장하기 위한 레지스터를 설계하고 동시에 두 개의 테스트패턴을 인가시킴으로써 테스트 인가 시간을 줄인다. 즉, 초기화 패턴은 TDI 입력 단자를 통해 이동시키고 두번째 테스트 패턴은 TMS 단자를 통해 설계된 Boundary 스캔 셀로 인가시킨다. 그리고 테스트 이동 상태를 종료시키기 위하여 테스트 입력시 2 비트만을 추가로 입력하여 입력셀의 끝단에 도달하였을 때 TMS 모드를 바꿀 수 있도록 한다. 따라서 지연 고장 테스트 인가 시간을 약 50% 감소 시킬 수 있다.

목차

요약

Ⅰ 서론

Ⅱ Boundary - Scan표준안과 지연 테스트

Ⅲ Boundry 스캔구조를 이용한 지연 테스트

Ⅳ 실험 및 결과

Ⅴ 결론

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