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저자정보
하임경 (한양 대학교) 이동욱 (한양 대학교) 김진석 (한양 대학교) 김은규 (한양 대학교) 배성범 (한국전자통신연구원) 이규석 (한국전자통신연구원) 오대곤 (한국전자통신연구원) 한영환 (원자력 연구소) 이병철 (원자력 연구소)
저널정보
한국진공학회 한국진공학회 학술발표회초록집 한국진공학회 제35회 하계정기학술대회 초록집
발행연도
2008.8
수록면
124 - 124 (1page)

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이 논문의 연구 히스토리 (3)

2008

전자빔 조사된 GaN 에피층의 결함분포에 따른 특성분석
하임경 ,  이동욱 ,  김진석 외 6명 한국진공학회 학술발표회초록집 2008.08 학술대회자료
1 MeV 및 2 MeV 전자빔 조사된 GaN 에피층의 결함
하임경 ,  이동욱 ,  김진석 외 6명 한국진공학회 학술발표회초록집 2008.02 학술대회자료

2007

MOCVD 기법으로 성장한 GaN 에피층의 전자빔 조사를 통한 결함 형성 및 분석
하임경 ,  이동욱 ,  김진석 외 6명 한국진공학회 학술발표회초록집 2007.08 학술대회자료

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