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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
Jun-Won Kim (숭실대학교) Young-Su Roh (숭실대학교)
저널정보
대한전기학회 Journal of Electrical Engineering & Technology Journal of Electrical Engineering & Technology Vol.6 No.3
발행연도
2011.5
수록면
391 - 396 (6page)

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The tracking pattern formed on the dielectric surface due to a surface electrical discharge exhibits fractal structure. In order to quantitatively investigate the fractal characteristics of the surface tracking pattern, the dielectric breakdown model has been employed to numerically generate the surface tracking pattern. In dielectric breakdown model, the pattern growth is determined stochastically by a probability function depending on the local electric potential difference. For the computation of the electric potential for all points of the lattice, a two-dimensional discrete Laplace equation is solved by mean of the successive over-relaxation method combined to the Gauss-Seidel method. The box counting method has been used to calculate the fractal dimensions of the simulated patterns with various exponent η and breakdown voltage Ø<SUB>b</SUB>. As a result of the simulation, it is found that the fractal nature of the surface tracking pattern depends strongly on η and Ø<SUB>b</SUB>.

목차

Abstract
1. Introduction
2. Carbonization Pattern of a Phenolic Resin
3. Numerical Generation of Surface Tracking Patterns using DBM
4. Fractal Analysis of Tracking Patterns
5. Conclusion
References

참고문헌 (11)

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