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저자정보
Zuohua Ding (Zhejiang Sci-Tech University) Kao Zhang (Zhejiang Sci-Tech University) Jueliang Hu (Zhejiang Sci-Tech University)
저널정보
대한전자공학회 ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications ITC-CSCC : 2008
발행연도
2008.7
수록면
1,117 - 1,120 (4page)

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This paper attempts to generate test cases for concurrent programs based on event graph. Through the analysis of state transition of event graph, sub-event-graphs can be generated. Each sub-event-graph corresponds to a test case. We may get benefits from this method in the following. 1) While executing the test case, we can monitor the state transition. 2) Every sub-event-graph is an execution path, or a simulation, thus all test cases are feasible. 3) Since the number of states in the event graph is finite, it is not likely to hit state explosion problem in the test generation process.

목차

Abstract
1. Introduction
2. Event Graph
3. Generating Sub-Event-Graph
4. Case study
5. Conclusion
Acknowledgments
References

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2013-569-001141316