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논문 기본 정보

자료유형
학술대회자료
저자정보
Daisuke Suga (Tokushima University) Hiroyuki Yotsuyanagi (Tokushima University) Masaki Hashizume (Tokushima University)
저널정보
대한전자공학회 ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications ITC-CSCC 2015
발행연도
2015.6
수록면
653 - 656 (4page)

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In this paper, an electrical test method is proposed for open defects in CMOS ICs. The test method is based on amount of charge injected from a power supply voltage source. Also, it is examined by Spice simulation whether an open defect in an inverter chain circuit can be detected by the test method. The simulation results show us that an open defect can be detected by the test method.
#electrical test method #CMOS IC #injected charge #open defect

목차

Abstract
1. Introduction
2. Our Electrical Test Method
3. Supply voltage source for our tests
4. Feasibility of tests
4. Conclusion
References

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