프로브 검사 결점 수 데이터를 이용한 패키지 칩 품질 예측 방법론

박진수; 김성범

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자료유형: 학술저널

저자정보: 박진수 (고려대학교) 김성범 (고려대학교)

저널정보: 대한산업공학회 대한산업공학회지 대한산업공학회지 제41권 제4호

발행연도: 2015.8

수록면: 408 - 413 (6page)

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이 논문의 연구 히스토리 (3)

2016

프로브 검사 결점 수 데이터를 이용한 패키지 칩 품질 예측 방법론

박진수 産業經營工學科 2016.01 학위논문

2015

프로브 검사 결점 수 데이터를 이용한 패키지 칩 품질 예측 방법론

박진수 , 김성범 대한산업공학회지 2015.08 학술저널

2014

프로브 검사 결점 수 데이터를 이용한 패키지 칩 품질 예측 방법론

박진수 , 김성범 대한산업공학회 추계학술대회 논문집 2014.11 학술대회자료

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The quality prediction of the semiconductor industry has been widely recognized as important and critical for quality improvement and productivity enhancement. The main objective of this paper is to predict the final quality of semiconductor chips based on fail bit count information obtained from probe tests. Our proposed method consists of solving the data imbalance problem, non-parametric variable selection, and adjusting the parameters of the model. We demonstrate the usefulness and applicability of the proposed procedure using a real data from a semiconductor manufacturing.

#Quality prediction #Probe test #SMOTE #Non-parametric feature selection

참고문헌 (23)

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[학술대회논문] - An, D. / 2009 / A semiconductor yields prediction using stepwise support vector machine / Assembly and Manufacturing, 2009. ISAM 2009, IEEE International Symposium on : 130 ~ 136

[학술대회논문] - Baek, D. / 2002 / Semiconductor yield improvement system using the data mining / IE interfaces, 2002 (single) : 293 ~ 300

[학술지(정기간행물)] - Benjamini, Y / 1995 / Controlling the false discovery rate : a practical and powerful approach to multiple testing / Journal of the Royal Statistical Society, Series B (Methodological) : 289 ~ 300

[학술지(정기간행물)] - Chawla, N. V. / 2002 / SMOTE : synthetic minority over-sampling technique / Journal of Artificial Intelligence Research 16 : 321 ~ 357

[단행본] - Chawla, N. V. / 2003 / SMOTEBoost : Improving prediction of the minority class in boosting, In Knowledge Discovery in Databases : PKDD 2003 / Springer

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