A New Low Power Scan Architecture Considering Test Data Compression

Hong-Sik Kim ,  Beom Ik Cheon ,  Kyu-Myung Choi 외 1명

대한전자공학회 ISOCC

2006 .10

A New Test Data Compression for Low Power Test

Sunghoon Chun ,  Yongjoon Kim ,  Minjoo Lee 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2005 .05

Low power scan testing and efficient test data compression for System-On-a-Chip

Jun Mo Jung ,  Jong-Wha Chong

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

2002 .07

Efficient Parallel Scan Test Technique for Cores on AMBA-based SoC

Jaehoon Song ,  Jihun Jung ,  Dooyoung Kim 외 2명

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2014 .06

Low Power Scan Chain Reordering Method with Limited Routing Congestion for Code-based Test Data Compression

Dooyoung Kim ,  M. Adil Ansa ,  i 외 3명

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2016 .10

System-On-a-Chip(SOC)에 대한 효율적인 테스트 데이터 압축 및 저전력 스캔 테스트

정준모 ,  정정화

전자공학회논문지-SD

2002 .12

SOC Test Compression Scheme Sharing Free Variables in Embedded Deterministic Test Environment

Wang Weizheng ,  Cai Shuo ,  Xiang Lingyun

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2015 .06

IT-SoC

김시호

TTA 저널

2005 .01

테스트 비용 절감을 위한 스캔 체인 기반의 저전력 테스트 패턴 압축 기술

문창민 ,  김두영 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

2013 .07

개선된 SoC에 관한 연구

박춘명

대한전자공학회 학술대회

2016 .11

A New Scan Slice Encoding Scheme with Flexible Code for Test Data Compression

Keun-Soo Lee ,  Hyuntae Pa ,  k 외 2명

대한전자공학회 ISOCC

2010 .11

IT SOC 기술

선우명훈

전자공학회지

2009 .02

System C를 이용한 SOC 설계 방법

홍진석 ,  김주선 ,  배점한

대한전자공학회 학술대회

2000 .06

IT SoC Network

IT-SOC협회 ,  IT-SoC Association

IT SOC magazine

2006 .01

IT SoC Network

IT-SOC협회 ,  IT-SoC Association

IT SOC magazine

2006 .01

IT SoC Network

IT-SOC협회

IT SOC magazine

2009 .01

IT SoC Network

IT-SOC협회 ,  IT-SoC Association

IT SOC magazine

2006 .01

IT SoC Network

IT-SOC협회 ,  IT-SoC Association

IT SOC magazine

2006 .01

IT SoC Network

IT-SOC협회 ,  IT-SoC Association

IT SOC magazine

2004 .01