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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2020.8
- 수록면
- 277 - 282 (6page)
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본 연구는 전자장비가 여러 환경에 노출되어 장비 작동에 영향을 받을 수 있으므로 해소할 수 있는 방법을 찾고자 본 연구를 시작하였다. 텔레스코픽 캐스코드 비교기에 지수정류파(iexp)을 SET(Single Event Transient) 환경으로 설정하여 어떤 영향이 있는지에 대해 실험하였다. 본 논문에서 SET 상황을 설정하지 않은 텔레스코픽 캐스코드 비교기에서는 전파 지연은 0.46㎲, 이득은 0.713으로 측정되었다. SET 상황을 입력한 텔레스코픽 캐스코드 비교기에서 FET T0(M6)는 11㎲~ 15㎲에서 큰 스파이크를 나타난 것으로 측정되었다. FET T1(M5)는 10㎲ ~ 16㎲에서 출력 신호가 단락되었다. FET T2(M3)는 단락된 출력신호를 나타냈으며 FET T3(M4)는 큰 스파이크 파형 형태로 출력파형이 측정되었다. FET T4(M1)와 FET T5(M2)는 스파이크 신호가 출력되었다. 그리고 모든 FET에서 전파지연은 0.45㎲~0.54㎲로 변화되었다. 결론적으로 SET 상황에서 텔레스코픽 캐스코드 비교기에 있는 FET소자는 많은 영향을 받는 것으로 측정되었다.
목차
요약
Abstract
1. 서론
2. 실험 및 고찰
3. 결론
REFERENCES
참고문헌 (15)
참고문헌 신청
L. Petroli / 2006 / SET Fa ult Tolerant Combinational Circuits Based o n Majority Logic / 2006 21st IEEE Internatio nal Symposium On Defect and Fault Toleran ce in VLSI Systems 1:345~352
Mousa Yousefi / 2019 / Power R eduction of the Low Offset Dynamic Compa rator with Novel Techniques / Majlesi Journa l of Electrical Engineering 13(2):15~20
Bishnu Prasad De / 2016 / Soft computing-based approach for optimal design of on-chip comparator a nd folded-cascode op-amp using colliding b odies optimization / International Journal OF Numerical Modelling : Electroic Networks, Devices and fields Int. J. Numer. Model 29:873~896
Ecoffet. R / 1994 / Observation of heavy ion i nduced transients in linear circuits / IEEE Ra diation Effects Data Workshop :72~77
R. Harboe-Sorensen / 1999 / Single event transient characte-rization of analog IC’s for ESA’s satellites / Proc. RA DECS :573~581
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Bishnu Prasad De / 2016 / Soft computing-based approach for optimal design of on-chip comparator a nd folded-cascode op-amp using colliding b odies optimization / International Journal OF Numerical Modelling : Electroic Networks, Devices and fields Int. J. Numer. Model 29:873~896
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