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논문 기본 정보

저자정보
(Takuma National College of Technology) (Tokushima University) (Tokushima University) (Takuma National College of Technology) (Tokushima University)
저널정보
대한전자공학회 ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications ITC-CSCC : 2008
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    초록·키워드

    In this paper, we propose a new test method for detecting an open lead which occurs when an IC is mounted on a printed circuit board. In the method, an open lead is detected by observing output logical change of an open lead detector. Since the test method is a vectorless test one, test generation and test input application are not needed. Testability of the test method is examined by some experiments. The results show that open leads of SSIs and LSIs will be detected by the method.

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      UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2013-569-001139127