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논문 기본 정보

저자정보
(Ehime University) (Ehime University) (Ehime University) (Ehime University) (University of Wisconsin - Madison)
저널정보
대한전자공학회 ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications ITC-CSCC 2015
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    Presence of hazards can often lead to poor diagnosis. In this paper we propose a diagnosis method for gate delay faults in the presence of clock delays and hazards. Candidate faults are deduced using a fault dictionary which is created by the fault simulation considering hazard signals. Our diagnosis method can deduce candidate faults successfully even when a fault is activated by a hazard signal or when hazard signals are propagated to outputs, though conventional methods without considering hazards often fail to do so.
    #Fault diagnosis #Delay faults #Hazard signals

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      UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2016-569-001693962