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논문 기본 정보

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(Korea Electrotechnology Research Institute) (Korea Electrotechnology Research Institute) (Korea Electrotechnology Research Institute) (Korea Electrotechnology Research Institute)
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대한전기학회 전기학회논문지 전기학회논문지 제73권 제11호
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    In this study, a simulation-based digital twin model is presented through a reduced temperature control test device test. The simulation of the test device is performed with Fluent from Ansys, a commercial FVM (Finite Volume Method) software. This model consists of RS ROM (Response Surface ROM) that predicts the scalar value HeatEnergy, and Static ROM that predicts the velocity and temperature fields. The experimental verification compares the temperature sensor value with the predicted value of the Static ROM in the design value (DP, Desgin Point) 3. As a result, an average error of about -1.364 [C] occurs.
    #Simulation-Based Digital Twin #ROM(Reduced Oder Model) #RS ROM (Response Surface ROM) #Static ROM. Virtual Sensing

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