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초록·키워드
무기체계는 Built-In-Test (BIT) 능력을 포함하여 개발되며, 이는 고장탐지, 진단, 고장분리의 기능을 제공하는 것을 목적으로 하고 있다. 그러나 무기체계에 다양한 목적 기능을 요구함에 따라 이를 달성하기 위하여 시스템이 복잡해져(Electromechanical System) 기존 BIT 적용으로는 고장 동조화 (coupling), 고장 전파 (Propagation)를 예방하기 어려워 졌으며, 이는 결국 False Alarm, No Fault Found (NFF) 현상을 발생시켜 운용 및 정비의 비효율성을 야기시킨다. 본 연구에서는 시계열 BIT 신호 기반으로 CBM+의 핵심인 진단과 예측을 구현하여 이러한 문제점에 대한 대안 제시 하였다. 특히 기존 국내에서 연구가 부족한 분야인 전자구성품의 Discrete 상태신호를 기반으로 고장분리, 이상탐지, 잔여수명 예측을 위한 구현 방법론을 제시하였으며, 실제 운용 체계의 정비 다빈도 품목을 식별하여 대상 품목으로 설정하고, 이에 대한 장기간의 Discrete 상태 신호를 수집하여 전처리하고 분석하여 고장분리, 이상탐지를 구현하였다. 또한 실제 정비 데이터를 기반으로 고장분리 및 이상탐지에 대한 성능을 평가하였고 잔여수명 예측을 수행하였다. 결론에서는 본 연구에 대한 한계 및 향후 연구 과제를 제시 하였다.
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