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논문 기본 정보

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(Myongji University) (Pusan National University) (Kongju National University) (Myongji University) (Sungkyunkwan University) (Myongji University)
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대한전기학회 전기학회논문지 전기학회논문지 제75권 제10호
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    초록·키워드

    Gate charge is an important parameter related to the switching and gate-driving characteristics of power MOSFETs. This study presents a datasheet-based empirical trend analysis of 204 commercial 650 V and 1200 V Si and SiC MOSFETs. The relationships among gate charge, gate-drain charge, rated continuous drain current, on-resistance, input capacitance, and gate-charge test voltage were evaluated using Spearman rank correlation with two-sided testing. The SiC devices were generally characterized at higher gate-source test voltages. The findings provide quantitative reference data for power-MOSFET selection and gate-driver design.

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