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초록·키워드
본 논문은 CCI에 의한 다중 셀 NAND 플래시 메모리의 정보 왜곡을 보정하기 위한 새로운 방법으로 비트라인에 인가되는 전압을 조정하는 방법을 제안하였다. 제안한 방법의 검증을 위하여, 먼저 20nm 디자인 룰과 64셀 스트링 게이트 구조를 갖는 다중 셀 NAND 플래시 메모리의 주변 가해자 3셀에 의한 피해자 셀의 문턱 전압 변화량을 분석하였고, 셀 스트링 전류를 계산하였다. 비트 라인 전압 0.1V의 보정으로 약 60mV의 문턱 전압 변화량 (Δ V<SUB>TH</SUB>)을 보정할 수 있음을 확인하였다. 따라서 동일 워드 라인을 공유하는 셀들을 동시에 읽을 때 CCI 정도에 따라 각각 다른 비트 라인에 인가되는 전압을 조절함으로써 읽기 성능의 저하 없이 CCI에 의한 정보의 왜곡을 보정할 수 있을 것으로 분석된다.
본문·목차
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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2015-560-002900174
