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(성균관대학교) (동명대학교) (성균관대학교) (성균관대)
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대한전기학회 전기학회논문지 전기학회논문지 제65권 제10호
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    초록·키워드

    This paper presents the analysis of the gate-source voltage of the gallium nitride high electronic mobility transistor (GaN HEMT) in the half bridge structure focused on the mutual effects of two switching operation. Especially low side gate-source voltage is analyzed mathematically according to the high side switch turn-on and turn-off operation. Moreover, the influence of each gate resistance and parasitic component on the switching characteristic of other side switch is investigated, and the formula, simulation and experimental results are compared with theoretical data.

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      UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2017-560-001343846