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대한기계학회 대한기계학회 춘추학술대회 대한기계학회 2006년도 추계학술대회 강연 및 논문 초록집
발행연도
2006.11
수록면
6 - 10 (5page)

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Conventional PIV method requires a significant angle between the illumination plane and the viewing axis. This configuration allows whole field to be viewed with minimal image distortion. In industrial situations, it is common for this requirement to be difficult to fulfill. In this paper, we describe development of a new PIV method which utilizes in-plane scanning to assemble the particle images. This is similar to the Echo PIV technique. An optimization study was performed to find parameters which minimize the measurement error: the effect of particle diameter, overlapping ratio and particle number was investigated.
#Scanning Method(스캔 기법) #PIV(입자화상속도계) #Synthetic Image(합성화상)

목차

Abstract
1. 서론
2. In-plane scanning PIV기법
3. 최적화 연구 결과
4. 결론
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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2009-550-016806793