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저자정보
Seokjoong Kim (삼성전자) Naeun Zang (서강대학교) Juho Kim (서강대학교)
저널정보
대한전자공학회 ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications ITC-CSCC : 2007
발행연도
2007.7
수록면
677 - 678 (2page)

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In this paper, we propose an accurate and efficient statistical leakage power analysis methodology that considers process variance in chip fabrication. The proposed methodology utilizes probability density function and guarantees generality and efficiency by simplifying the algebraic sum of each com ... 전체 초록 보기

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