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논문 기본 정보

저자정보
(The State University of New York, Korea) (The State University of New York, Korea)
저널정보
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    Electric vehicles (EVs) are rapidly expanding, and the traction inverter is one of their most critical power electronic subsystems. The reliability of printed circuit boards (PCBs) within these inverters directly affects both safety and warranty costs. However, despite the importance of inverter electronics, there is no established method for quantifying board-level random failures. This study proposes a physics-of-failure-based framework by adapting Highly Accelerated Life Testing (HALT) and integrating it with the stress-strength model. A BTS7960 ... 전체 초록 보기
    #Electric Vehicle #Board-Level Reliability #HALT (Highly Accelerated Life Testing) #Stress-Strength Model #Random Failure #Physics-of-Failure

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