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대한전기학회 JOURNAL OF KIEE JOURNAL OF KIEE Vol.2 No.2
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127 - 131 (5page)

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A latch-up-free self-aligned IGBT structure with a very small n⁺-source region formed by outdiffusion of phosphorus from the sidewall phosphosilicate glass(PSG) is proposed. The device with proposed structure shows good I·V characteristics without latch-up phenomena and has an extremely low on-resistance which is less than that of power MOSFET even with a moderately doped p-substrate. The proposed device structure can also reduce the chip area through the decrease of unit cell size.
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목차

  1. Abstract
  2. 1. Introduction
  3. 2. Device Fabricaton
  4. 3. Result and discussion
  5. 4. Conclusion
  6. REFERENCES

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