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논문 기본 정보

저자정보
(Sogang University) (Sogang University)
저널정보
대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.11 No.4
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    초록·키워드

    The ambipolar behavior of tunneling fieldeffect transistors (TFETs) has been investigated quantitatively by introducing a novel parameter: ambipolarity factor (ν). It has been found that the malfunction of TFET can result from the ambipolar state which is not on- or off- state. Therefore, the effect of ambipolar behavior on the device performance should be parameterized quantitatively, and this has been successfully evaluated as a function of device structure, gate oxide thickness, supply voltage, drain doping concentration and body doping concentration by using ν.

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      UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2013-569-001351347