메뉴 건너뛰기

추천
검색

논문 기본 정보

자료유형
학술대회자료
저자정보
(연세대학교 전기전자공학부) (연세대학교 전기전자공학부) (영남대학교 신소재공학부) (영남대학교 신소재공학부) (연세대학교 전기전자공학부) (연세대학교 전기전자공학부)
저널정보
한국재료학회 한국재료학회 학술발표대회 한국재료학회 2011년도 춘계학술발표대회
발행연도
수록면
261 - 261 (1page)

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
이 논문의 연구방법이 궁금하신가요?
🏆
연구결과
이 논문의 연구결과가 궁금하신가요?
AI에게 요청하기
추천
검색

초록· 키워드

We investigated the atomic layer deposition (ALD) process for nitrogen doped ZnO and the application for n-ZnO : N/p-Si (NW) coaxial hetero-junction photodetectors. ALD ZnO:N was deposited using diethylzinc (DEZ) and diluted $NH_4OH$ at $150^{\circ}C$ of substrate temperature. About 100~300 nm diameter and 5 um length of Si nanowires array were prepared using electroless etching technique in 0.108 g of $AgNO_3$ melted 20 ml HF liquid at $75^{\circ}C$. TEM images showed ZnO were deposited on densely packed SiNW structure achieving extraordinary conformality. When UV (360 nm) light was illuminated on n-ZnO:N/p-SiNW, I-V curve showed about three times larger photocurrent generation than film structure at 10 V reverse bias. Especially, at 660 nm wave length, the coaxial structure has 90.8% of external quantum efficiency (EQE) and 0.573 A/W of responsivity.
상세정보 수정요청해당 페이지 내 제목·저자·목차·페이지
정보가 잘못된 경우 알려주세요!

목차

등록된 정보가 없습니다.

참고문헌

참고문헌 신청

최근 본 자료

전체보기