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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
Hyeong Jun Kim (Korea Institute of Ceramic Engineering and Technology)
저널정보
한양대학교 세라믹공정연구센터 Journal of Ceramic Processing Research Journal of Ceramic Processing Research 제13권 제S2호
발행연도
2012.11
수록면
241 - 245 (5page)

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The barrier rib on plasma display panel (PDP) is a typical 3D-patterned thick film with thickness of 120 μm and it is hard to measure its dielectric constant in this state of the product. Because the porosity of ceramic thick film influenced the mechanical and dielectric characteristics, it was expected that there was the relationship between two properties. Therefore, the correlation analysis between porosity, hardness and dielectric constant of the barrier rib was studied and the exponential curve between porosity and hardness, and the quadratic curve between porosity and dielectric constant were drawn. The dielectric constant was well related to hardness by K400kHz = 0.5672 + 5.695 ln(Hv). The hardness was measured at five points on two real panels which sintered by two types of profiles and then dielectric constants and deviation were estimated by the above equation.
#Ceramic thick film #Dielectric constant #Hardness #Porosity

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