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대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 2023년도 대한전자공학회 하계학술대회 논문집
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120 - 124 (5page)

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In this study, we investigated the DC characteristics of AlGaN/GaN high-electron-mobility transistor (HEMT) by modulating the thicknesses of AlGaN barrier and GaN buffer. As the AlGaN barrier thickness was decreased, transconductance (gm) was increased due to the drop of distance between gate and channel. In addition, increase of GaN buffer thickness resulted in improvement of breakdown voltage owing to the reduction of substrate leakage current. Consequently, simulation results will help to design AlGaN/GaN HEMTs that show higher gm and breakdown characteristics.
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목차

  1. Abstract
  2. Ⅰ. 서론
  3. Ⅱ. 본론
  4. Ⅲ. 구현
  5. Ⅳ. 결론 및 향후 연구 방향
  6. 참고문헌

참고문헌

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