회로 분할에 의한 순차회로의 테스트생성 ( Test Generation for Sequential Circuits Based on Circuit Partitioning )

최호용

전자공학회논문지-C

1998 .04

순차회로의 테스트생성 기술

최호용

전자공학회지

1998 .11

시이컨셜회로 구현에 관한 연구

박춘명

대한전자공학회 학술대회

2012 .11

회로 분할에 의한 부분 스캔 ( Partial Scan Based on Circuit Partitioning )

최호용 ,  정용군 ,  강민섭

대한전자공학회 학술대회

1997 .07

회로 분할에 의한 부분 스캔

최호용 ,  정용군 ,  강민섭

대한전자공학회 학술대회

1997 .06

기초회로실험을 통한 여러 가지 회로 설계

진정아 ,  최연성 ,  김잔디 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2014 .11

유사조합 회로로의 변환에 기초한 부분 스캔 기법을 이용한 디지탈 순차 회로의 테스트 기법 연구

閔炯福

전기학회논문지

1994 .03

순차 회로를 위한 효율적인 지연 고장 테스트 알고리듬

허경희 ,  강용석 ,  강성호

대한전기학회 학술대회 논문집

1999 .11

Computer Aided Design of Sequential Logic Circuits (Case of Synchronous Sequential Logic Circuits)

金敬植 ,  趙東燮 ,  黃熙隆

전기학회논문지

1984 .04

Computer-Aided Design of Sequential Logic Circuits (Case of Asynchronous Sequential Logic Circuits)

金炳喆 ,  趙東燮 ,  黃熙隆

전기학회논문지

1984 .02

Test Generation for Sequential Circuits

Dong Ho Lee

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

디스플레이 테스트를 위한 패턴 생성 회로 설계

조경연

대한전자공학회 학술대회

2003 .07

여러 개의 FPGA 칩을 위한 대규모 회로의 분할 ( Partitioning of Large - Circuits for Multiple FPGAs )

김충희 ,  신현철

전자공학회논문지-A

1995 .04

LED 구동회로의 보호회로

박유철 ,  김훈 ,  김희준 외 2명

대한전자공학회 학술대회

2008 .06

클러스터 재배치를 이용한 회로분할 ( Clusters Re-placement for Circuit Partitioning )

김상진 ,  윤태진 ,  이창희 외 1명

전자공학회논문지-C

1999 .06

회로 분할 방법을 이용한 지연 시간 추출 알고리즘

김상훈 ,  황경주 ,  한창호

한국정보과학회 학술발표논문집

1998 .04

조합논리회로의 고장 검출율 개선을 위한 회로분할기법 ( Circuit Partitioning to Enhance the Fault Coverage for Combinational Logic )

노정호 ,  김상진 ,  이창희 외 2명

전자공학회논문지-C

1998 .04

상태 정보 학습을 이용한 새로운 순차회로 ATPG 기법 ( New Test Generation for Sequential Circuits Based on State Information Learning )

이재훈 ,  송오영

한국통신학회논문지

2000 .04

R-C 분포회로에 관한 연구 ( Research on R-C Distributed Circuits )

박송배

전자공학회지

1966 .04

CMOS 회로에 대한 테스트 생성 방법 ( A Test Generation Method for CMOS Circuits )

정준모 ,  장원학 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1988 .11