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대한전자공학회 JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications
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    This paper proposes an efficient algorithm for testing semiconductor random access memories (RAM's). The test algorithm detects simultaneously present functional faults such as stuck-at faults, transition faults and coupling faults and requires 19N operations, which is an improvement over conventional algorithms. Thus testing time is reduced by the smaller number of operations of the test algorithm and test generation and application are simple by the linear address marching.

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