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대한전자공학회 전자공학회논문지-SC 전자공학회논문지 제41권 SC편 제3호
발행연도
2004.5
수록면
25 - 32 (8page)

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본 논문에서는 두 개의 사인파 신호의 위상 차이를 계산해 내기위한 개선된 위상 측정 알고리즘을 제안하였다. 이 알고리즘은 두 개의 입력신호의 양자화된 샘플링 데이터를 사용하여 위상과 크기를 구해낸다. 측정 알고리즘의 중요 파라메타들은 몇 개의 해석식으로 표현되기 때문에 위상을 계산하기 위해 필요한 연산량이 상당히 줄어들고 따라서 더 빠른 속도로 위상을 계산해 낼 수 있게 되었다. 또한 본 논문에서 제시한 알고리즘을 사용하여 입력신호의 한주기 전체를 샘플링할 경우에는 입력신호에 harmonic distortion이 발생하더라도 위상 측정 오차가 전혀 발생하지 않음을 수식으로 증명하였으며 컴퓨터 시뮬레이션을올 통하여 이를 확인 하였다. 그리고 입력신호에 가우시안 백색 잡음(white gaussian noise)이 발생할 경우에 위상 측정 오차가 얼마나 발생하는 지에 대하여 여러 가지 관점에서 컴퓨터 시abf레이션을 수행하고 그 결과를 분석하였다.

목차

요약

Abstract

1. 서론

2. 위상 측정 알고리즘

3. Harmonic 성분에 의해서 왜곡이 일어난 신호에 대한 오차 해석

4. 컴퓨터 시뮬레이션 결과

5. 결론

참고문헌

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