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한국경영과학회 한국경영과학회 학술대회논문집 한국경영과학회 2005년 춘계학술대회논문집
발행연도
2005.5
수록면
906 - 913 (8page)

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신제품으로 개발 중인 초소형 CMOS RF 전압 제어발진기(VCO) IC에 대한 공인된 시험 규격은 현재 개발되어 있지 않다. 또한 제조업체들은 고유의 시험방법을 보유하고 있을 것이나 공개하지 않고 있는 실정이다. 한편 일부 해외 제조업체에서 국제 규격인 IEC 또는 JEDEC을 기준으로 시험방법을 제시하고 있지만, 이러한 시험규격들은 개별 부품을 솔더링하는 하이브리드 공정을 이용하여 제작된 VCO를 대상으로 한 것이다. 그러므로 CMOS 반도체 공정을 이용한 IC형으로 개발 중인 VCO를 평가하기에는 적합하지 않다.
이에 본 연구에서는 신개발 부품인 CMOS RF VCO IC에 대한 신뢰성 시험 및 평가 기준을 수립하고, 신뢰성 확보를 위한 신제품 개발 단계에서의 신뢰성 평가 프로세스를 개발하고자 한다.

목차

Abstract

1. 서론

2. 제품 개발 및 양산 단계에서의 신뢰성 평가

3. 신제품 개발을 위한 신뢰성 평가 프로세스

4. 신뢰성 평가 프로세스의 적용사례

5. 결론

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