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Photoemission spectroscopy of Ta₂O5 / Si(001) and Ta₂O5 / SiO₂ / Si(001) along its depth.
한국진공학회 학술발표회초록집
1997 .07
Conversion from SIMS depth profiling to compositional depth profiling of multi-layer films
한국진공학회 학술발표회초록집
2011 .02
Effects of post - treatments on the physical properties of Ni / Si multilayered films
한국진공학회 학술발표회초록집
2003 .02
Compositional SIMS Depth Profiling of CIGS film
한국진공학회 학술발표회초록집
2011 .02
Decision of Interface and Depth Scale Calibration of Multilayer Films by SIMS Depth Profiling
한국진공학회 학술발표회초록집
2012 .02
PROPERTIES OF Co / Ti MULTILAYERED FILMS
한국진공학회 학술발표회초록집
1997 .07
X선회절을 이용한 Si / SiO₂ 및 Si / SiO₂ / poly - Si의 응력측정
한국진공학회 학술발표회초록집
1994 .02
Various Iron - silicide Formation in Fe / Si Multilayered Films
한국진공학회 학술발표회초록집
2002 .02
Growth and Characterization of Multilayered Pt - Co Alloy Thin Film on Si as a New Type of Standard Material for Surface Compositional Analysis
한국진공학회 학술발표회초록집
1996 .02
Physical properties of ion - beam mixed Fe / Si multilayered films
Journal of Korean Vacuum Science & Technology
2001 .12
Structure and Physical Properties of Fe / Si Multilayered Films with Very Thin Sublayers
한국진공학회 학술발표회초록집
2000 .02
SiO₂/Si₃N₄/SiO₂와 Si₃N₄/SiO₂/Si₃N₄ 터널 장벽을 사용한 금속 실리사이드 나노입자 비휘발성 메모리소자의 열적 안정성에 관한 연구
한국진공학회 학술발표회초록집
2010 .02
Depth Distributions of Bi+ Ions Implanted into Ni, Si and SiO₂, Films
Journal of Korean Vacuum Science & Technology
2002 .06
Electronic and Optical Properties of Al₂O₃/SiO₂ Thin Films on Si Substrate
한국진공학회 학술발표회초록집
2008 .08
TOF-SIMS Depth profile의 Sputtering rate를 통한 재질 연구
한국분석과학회 학술대회
2008 .11
Iron silicide formation in Fe / Si multilayered films by ion beam mixing
한국진공학회 학술발표회초록집
2002 .06
Co / Si 와 Co / SiO₂ 다층막의 자기적 성질
한국자기학회 학술연구발표회 논문개요집
1991 .05
A study of sputter XPS depth profiling of Ta₂O5 / Si without preferential sputtering problems.
한국진공학회 학술발표회초록집
1992 .07
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