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논문 기본 정보

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학술저널
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저널정보
한국분석과학회 분석과학 분석과학 제2권 제1호
발행연도
1989.6
수록면
109 - 114 (6page)

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Es wird eine leistungsfahige Glimmentladungslampe zur Tiefenprofilanalyse durch optische Emissionsspektrometrie (OES) beschrieben. In Hinblick auf eine Verbesserung des Nachweis und des Tiefenauflosungsvermogens werden erste orientierende Versuche mit Laserabsorptionsspektrometrie (LAAS) und der Laseratomfloureszensspektrometrie (LAFS) gezeigt. In Zukunft kann sicher auch die laserinduzierte Ionisation (LEI) in Verbindung mit der Glimmlampe eingesetzt werden.
Besonderer Wert bei den obigen Techniken wird auf den Einsatz von sehr leistungsfahigen und preiswerten Halbleiterlaserdioden (SDL) gelegt. Erstmals sollte as auch moglich sein mehrere Verfahren gleichzeitig an ein und der selben Entladung zu beobachten. Damit bietet die Glimmentladungslampe die Moglichkeit-durch den Vergleich der Messungen-die verfahrenspezifischen systematischen Fehler zu eleminieren und so die Richtigkeit der Messungen zu gewahrleisten.

목차

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