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이용수
요약
Abstract
1.서론
2. 실험 장치 및 실험 방법
3. 실험 결과 및 검토
4. 결론
참고문헌
◇著者紹介◇
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2007 .06
Fowler-Nordheim 터널링 전자주입에 의한 질화 게이트 산화막의 특성 분석 ( Characterization of Nitrided Gate Oxides by Fowler-Nordheim Tunneling Eletron Injection )
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1998 .07
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1989 .03
박막 MOS 구조내의 깊은 공핍층 Mode에 의한 Fowler-Nordheim 1-Vg and C-V 특성 ( Fowler-Nordheim I-Vg and C-V Characteristics Due to Deep Depletion Mode in Thin Gate-Oxide MOS Structures )
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1989 .01
Numerical Calculation Study on the Generalized Electron Emission Phenomenon
Journal of information display
2009 .01
Electron Emission Theory for LCD Backlight
한국정보디스플레이학회 International Meeting
2008 .01
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2009 .10
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1988 .02
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ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1993 .01
진공에서 전극 재질에 따른 절연파괴 전압 특성 파악
대한전기학회 학술대회 논문집
2008 .10
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2005 .01
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2013 .10
Prebreakdown Avalanche Pulses in Compressed SF₆ under Uniform Field
전기학회논문지
1984 .03
Electrical Conduction Characteristics of a Thick-film Form Multiwalled Carbon Nanotubes for Field Electron Emitter
한국정보디스플레이학회 학술대회
2000 .01
Silicon field emission arrays coated with a $CoSi_2$ layer grown by reactive chemical vapor deposition
한국정보디스플레이학회 학술대회
2000 .01
전계방출소자의 3차원 전계해석
대한전기학회 학술대회 논문집
1997 .11
Characterization of field electron emission from a metallic-edge emitter
대한전기학회 학술대회 논문집
2020 .07
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