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논문 기본 정보

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저널정보
한국정보기술학회 Proceedings of KIIT Conference 2003년도 하계 종합 학술발표회 논문집
발행연도
2003.8
수록면
154 - 158 (5page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

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Because the ultrasonic wave is a close relationship for the mechanical property of material like density. viscous rate. the coefficient of elasticity. etc., acoustic microscope has been used to detect the defects on surface or inner solid. Conventionally. we have used an acoustic microscope at single operating frequency. The resolution and quality of the measured images are determined by a characteristic of the transducer of the ultrasonic microscope. The conventional acoustic microscope has been used envelope detector to detect the amplitude of reflected signal. but the changes in amplitude is not sensitive enough for specimen with micro structure that in phase. In this paper. we have studied Multi-Frequency Depth Resolution Enhancement with Acoustic Reflection Microscope for the reflectors of a stainless steel specimen and the reference calibration block to be used as the material in nuclear power plants for ISI. PSI. Increased depth resolution can be obtained by taking three-dimensional images at more that one frequency and numerically combining the results. As results of the experiment. we could get enhanced images with the rate of contrast in proportion and high quality signal distribution for the image to the changing rate of depth for the reflectors of the two kinds of specimen.

목차

Abstract
1. 서론
2. 3차원 공간주파수응답
3. 실험결과 및 고찰
4. 결론
참고문헌

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2009-566-016513717