메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류

추천
검색
질문

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색
질문

초록· 키워드

오류제보하기
This paper shows a derating design approach for LED reliability improvement . The LED is widely used in display devices or circuits. The main failure of interest is defined as 100% reduction of the light output intensity of LED resulting from corrosion due to stresses, i.e. temperature and humidity. The lifetime is varied according to the stress levels under where the LED operates so that correlation of the lifetime to these stress levels over time is modeled through accelerated life testings. A derating design approach to accomplish a required reliability level of LED is proposed to determine adequate the stress levels. In the approach, B₁? life ,Failure rate, Sensitivity Analysis of LED are used as a reliability metric.

목차

Abstract
1. 서론
2. LED의 고장분석
3. 가속수명시험
4. 결론
후기
참고문헌

참고문헌 (0)

참고문헌 신청

함께 읽어보면 좋을 논문

논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!

이 논문의 저자 정보

이 논문과 함께 이용한 논문

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0

UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2009-550-016781733